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Aktuelles

  • 05.09.2014  JEOL JSX-1000S ElementEye™

    JEOL JSX-1000S ElementEye™

    Das JSX-1000S ElementEye™ ist die neueste Entwicklung im Bereich der Röntgenfluoreszenz-Spektrometer.

  • 10.04.2014  JEOL JSM-6010PLUS InTouch Scope™ - ein kompaktes, analytisches Rasterelektronenmikroskop

    JEOL JSM-6010PLUS InTouch Scope™ - ein kompaktes, analytisches Rasterelektronenmikroskop

    Das InTouch Scope™ JSM-6010PLUS ist ein kostengünstiges, hochauflösendes analytisches Elektronenmikroskop. Alle nötigen Funktionen sind in die kompakte Bauart integriert.

  • 01.10.2013  JEOL JSM-IT300

    JEOL JSM-IT300

    Das JEOL JSM-IT300 ist die neueste Innovation in der beliebten Wolfram / LaB6 Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Dieses hochleistungsfähige und vielseitige Rasterelektronenmikroskop kann für die verschiedensten Anwendungen genutzt werden.

  • 08.05.2013  Mixcroscopy – Korrelative Mikroskopie einfach gemacht

    Mixcroscopy – Korrelative Mikroskopie einfach gemacht

    JEOL Ltd. Präsident Gon-emon Kurihara kündigt unter der Bezeichnung "Mixcroscopy" ein neues korrelatives Mikroskopiesystem an. Dies erlaubt die Verbindung aus Optischer- und Rasterelektronenmikroskopie. Das neue System ist ab sofort erhältlich.

  • 18.04.2013  JEOL stellt neuen "Zero-Boil-Off"-Magnet für NMR-Systeme vor

    JEOL stellt neuen "Zero-Boil-Off"-Magnet für NMR-Systeme vor

    JEOL hat einen neuen supraleitenden Magneten für NMR-Systeme entwickelt der mit minimalem Verbrauch von flüssigem Helium funktioniert. Das neue NMR-System wurde auf der 54. Experimental Nuclear Magnetic Resonance Tagung (ENC) vorgestellt; der größten NMR Tagung in den USA.

  • 09.07.2011  JEOL Q-SEM Series – Analytische Rasterelektronenmikroskope

    JEOL Q-SEM Series – Analytische Rasterelektronenmikroskope

    Die Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskope der Q-SEM Series zeichnen sich durch hohe Leistungsfähigkeit und leichte Bedienbarkeit aus. Sie wurden entwickelt, um den hohen Ansprüchen der Qualitätssicherung sowohl im akademischen als auch im industriellen Bereich gerecht zu werden. Innerhalb weniger Minuten lassen sich detaillierte Oberflächenabbildungen und ortsaufgelöste Elementanalysen erstellen sowie 3D-Rekonstruktionen des Werkstücks anfertigen.

  • 08.07.2011  JEOL Spiral-TOF: Patentierte Ionenoptik mit weltweit höchster Massenauflösung

    JEOL Spiral-TOF: Patentierte Ionenoptik mit weltweit höchster Massenauflösung

    JEOL stellt mit dem neuen Spiral-TOF ein MALDI-TOF Massenspektrometer vor, das sich durch einen extrem langen spiralförmigen Flugweg der beschleunigten Ionen auszeichnet.

  • 02.07.2011  JEOL MICCS-NMR: In situ Echtzeit-Messung chemischer Reaktionen im NMR Spektrometer

    JEOL MICCS-NMR: In situ Echtzeit-Messung chemischer Reaktionen im NMR Spektrometer

    MICCS steht für: Micro Channeled Cell for Synthesis monitoring. In der NMR-Mikroflusszelle können bis zu drei verschiedene Substanzen perfekt vermischt und das Reaktionsgemisch direkt im NMR Magneten analysiert werden.

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Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
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JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
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Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
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Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    07.05. - 11.05.2017 Deutschland
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    Universität von Island, Reykjavik

 
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