JEOL - Aktuelles
 
 
60 Years NMR + 50 Years SEM

Aktuelles

  • 14.11.2015  Proteinforschung in Halle: Biochemiker nehmen modernes Elektronenmikroskop in Betrieb

    Proteinforschung in Halle: Biochemiker nehmen modernes Elektronenmikroskop in Betrieb

    Einmalige Technik am Weinberg-Campus: Ein neues Kryo-Elektronenmikroskop wurde vor kurzem von Wissenschaftlern der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg (MLU) im Biozentrum eingeweiht.

  • 03.11.2015  JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung

    JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung

    Das FEG-REM JSM-7200F deckt einen möglichst breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht dabei den einfachen Einstieg in die Welt der Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.

  • 03.11.2015  JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    Das neue Benchtop-REM JCM-6000Plus Neoscope™ - Ausgestattet mit einem hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor für die effiziente Materialanalytik.

  • 02.11.2015  JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEM-2100Plus ist ein Allround-Transmissionselektronenmikroskop, das eine stabile und leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint.

  • 10.09.2015  Das neue Seminar- und Schulungsprogramm 2015/2016

    Das neue Seminar- und Schulungsprogramm 2015/2016! Buchen Sie jetzt Ihren Wissensvorsprung für die Zukunft!

    Die informativen und kompetenten Weiterbildungsangebote der JEOL (Germany) GmbH lassen keine Wünsche offen, wenn es um die Entfaltung ungeahnter Möglichkeiten geht. Qualifizierung ist Ihr Schlüssel zum Erfolg – maßgeschneidert und individuell!

  • 09.08.2015  JEOL auf der MC 2015 in Göttingen

    JEOL auf der MC 2015 in Göttingen

    Auch in diesem Jahr bietet JEOL den Besuchern ein umfangreiches Messeprogramm während der MC 2015.

  • 15.07.2015  Neuer Webauftritt mit zahlreichen zusätzlichen Features

    Neuer Webauftritt mit zahlreichen zusätzlichen Features

    Die JEOL (Germany) GmbH hat ihren Internetauftritt neu gestaltet und um zahlreiche zusätzliche Features erweitert. Mit einem zeitgemäßen Design und der Verwendung aktueller Web-Technologien ist die neue Webseite die zentrale Anlaufstelle zur einfachen und schnellen Kontaktaufnahme. Optisch besticht der neue Webauftritt mit neuen frischen Motiven. Durch den Einsatz großflächiger Bilder und einem aufgeräumten Design werden technische Inhalte mit einer frischen Ästhetik vereint.

  • 08.01.2015  Sonderkonditionen für neue ECZ-S und ECZ-R-NMR-Serie

    Sonderkonditionen für neue ECZ-S und ECZ-R-NMR-Serie

    Seit mehr als 50 Jahren ist JEOL für seine breite Palette an NMR-Lösungen, zugeschnitten auf die Anforderungen von Wissenschaft, Industrie und öffentlichen Einrichtungen, bekannt; von Routineanalytik bis hin zur Spitzenforschung.

  • 03.12.2014  JEOL JSM-7800F PRIME - Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)

    JEOL JSM-7800F PRIME - Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)

    Branchenführendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop für alle Proben- und Analysetypen. Das JSM-7800F PRIME setzt mit seiner herausragend hohen Auflösung und Stabilität neue Standards für Abbildungen und Analyseverfahren im Bereich der Rasterelektronenmikroskopie.

  • 07.10.2014  JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

    JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

    Das SXES ist ein leistungsstarkes Spektrometer mit hoher Energieauflösung zur Analyse leichter Elemente. Es ist als Teil eines integrierten Analysesystems zur Verwendung mit der Mikrosonde oder zur Nutzung als eigenständiger Detektor vorgesehen.

  • 01.10.2014  JEOL JEM-ARM300F – neues ultrahochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-ARM300F – neues ultrahochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop

    Das neue ultrahochauflösende Transmissionselektronenmikroskop JEOL JEM-ARM300F ist die Weiterentwicklung des bewährten JEOL JEM-ARM200F.

  • 25.09.2014  Cross Section Polisher IB-19500CP & IB-195010CP

    Cross Section Polisher IB-19500CP & IB-195010CP

    Der JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP bzw. IB-19510CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.

  • 05.09.2014  JEOL JSX-1000S ElementEye™

    JEOL JSX-1000S ElementEye™

    Das JSX-1000S ElementEye™ ist die neueste Entwicklung im Bereich der Röntgenfluoreszenz-Spektrometer.

  • 10.04.2014  JEOL JSM-6010PLUS InTouch Scope™ - ein kompaktes, analytisches Rasterelektronenmikroskop

    JEOL JSM-6010PLUS InTouch Scope™ - ein kompaktes, analytisches Rasterelektronenmikroskop

    Das InTouch Scope™ JSM-6010PLUS ist ein kostengünstiges, hochauflösendes analytisches Elektronenmikroskop. Alle nötigen Funktionen sind in die kompakte Bauart integriert.

  • 01.10.2013  JEOL JSM-IT300

    JEOL JSM-IT300

    Das JEOL JSM-IT300 ist die neueste Innovation in der beliebten Wolfram / LaB6 Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Dieses hochleistungsfähige und vielseitige Rasterelektronenmikroskop kann für die verschiedensten Anwendungen genutzt werden.

  • 08.05.2013  Mixcroscopy – Korrelative Mikroskopie einfach gemacht

    Mixcroscopy – Korrelative Mikroskopie einfach gemacht

    JEOL Ltd. Präsident Gon-emon Kurihara kündigt unter der Bezeichnung "Mixcroscopy" ein neues korrelatives Mikroskopiesystem an. Dies erlaubt die Verbindung aus Optischer- und Rasterelektronenmikroskopie. Das neue System ist ab sofort erhältlich.

  • 18.04.2013  JEOL stellt neuen "Zero-Boil-Off"-Magnet für NMR-Systeme vor

    JEOL stellt neuen "Zero-Boil-Off"-Magnet für NMR-Systeme vor

    JEOL hat einen neuen supraleitenden Magneten für NMR-Systeme entwickelt der mit minimalem Verbrauch von flüssigem Helium funktioniert. Das neue NMR-System wurde auf der 54. Experimental Nuclear Magnetic Resonance Tagung (ENC) vorgestellt; der größten NMR Tagung in den USA.

  • 09.07.2011  JEOL Q-SEM Series – Analytische Rasterelektronenmikroskope

    JEOL Q-SEM Series – Analytische Rasterelektronenmikroskope

    Die Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskope der Q-SEM Series zeichnen sich durch hohe Leistungsfähigkeit und leichte Bedienbarkeit aus. Sie wurden entwickelt, um den hohen Ansprüchen der Qualitätssicherung sowohl im akademischen als auch im industriellen Bereich gerecht zu werden. Innerhalb weniger Minuten lassen sich detaillierte Oberflächenabbildungen und ortsaufgelöste Elementanalysen erstellen sowie 3D-Rekonstruktionen des Werkstücks anfertigen.

  • 08.07.2011  JEOL Spiral-TOF: Patentierte Ionenoptik mit weltweit höchster Massenauflösung

    JEOL Spiral-TOF: Patentierte Ionenoptik mit weltweit höchster Massenauflösung

    JEOL stellt mit dem neuen Spiral-TOF ein MALDI-TOF Massenspektrometer vor, das sich durch einen extrem langen spiralförmigen Flugweg der beschleunigten Ionen auszeichnet.

  • 02.07.2011  JEOL MICCS-NMR: In situ Echtzeit-Messung chemischer Reaktionen im NMR Spektrometer

    JEOL MICCS-NMR: In situ Echtzeit-Messung chemischer Reaktionen im NMR Spektrometer

    MICCS steht für: Micro Channeled Cell for Synthesis monitoring. In der NMR-Mikroflusszelle können bis zu drei verschiedene Substanzen perfekt vermischt und das Reaktionsgemisch direkt im NMR Magneten analysiert werden.

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Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.
JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
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