JEOL JCM-6000Plus NeoScope™
 
 
60 Years NMR + 50 Years SEM

JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

03.11.2015

Das neue Benchtop-REM JCM-6000Plus Neoscope™ - Ausgestattet mit einem hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor für die effiziente Materialanalytik.

Raster-Elektronenmikroskope werden sowohl in der Forschung und Entwicklung als auch in der Qualitätskontrolle bei industriellen Prozessen verwendet. Dabei finden Sie Einsatz in der Medizin, Biologie und Nanotechnologie bis hin zu den Materialwissenschaften, in denen Metalle, Halbleiter und Keramiken untersucht werden.

Das neue JCM-6000Plus ist mit dem gleichen hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor ausgestattet, der in höchst-auflösenden REMs eingesetzt wird. Dadurch können nun neben der Darstellung der Zusammensetzung und der Topographie der Probe auch plastisch wirkende Aufnahmen durch die Detektion von Rückstreu-Elektronen erzeugt werden.

 
 
 
 

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