JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung
 
 
60 Years NMR + 50 Years SEM

JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung

03.11.2015

Das FEG-REM JSM-7200F deckt einen möglichst breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht dabei den einfachen Einstieg in die Welt der Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.

Beim neuen JSM-7200F wird dank der patentierten In-Lens Schottky-Plus-Technology vor allem bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung (1,6 nm bei 1 kV) erreicht und zugleich kann ein hoher Probenstrom von über 300nA erzeugt werden.

 
 
 
 

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