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JEOL JSM-7800F PRIME - Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)
 
 
60 Years NMR + 50 Years SEM

JEOL JSM-7800F PRIME - Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)

03.12.2014

Branchenführendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop für alle Proben- und Analysetypen. Das JSM-7800F PRIME setzt mit seiner herausragend hohen Auflösung und Stabilität neue Standards für Abbildungen und Analyseverfahren im Bereich der Rasterelektronenmikroskopie.

Das Leistungsspektrum dieses Hochleistungs-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops umfasst folgende Funktionsmerkmale:

  • Abbildung morphologischer Feinststruktur von Nanomaterialien bei einer Vergrößerung von 1.000.000X mit einer Auflösung von 7Å bei 1kV
  • Aufnahme von großflächigen EBSD-Abbildungen bei geringer Vergrößerung ohne Verzerrung
  • Abbildung und Analyse hochmagnetischer Proben bei niedriger Beschleunigungsspannung
  • Abbildung dünner, elektronentransparenter Proben mit einer Sub-7Å-Auflösung im STEM-in-SEM-Modus.
 
 
 
 

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