JEOL - Gebrauchtgeräte

Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Nachfolgend aufgeführt finden Sie eine Auswahl von JEOL-Vorführ- und Gebrauchtgeräten.
Bei Fragen zu den einzelnen Geräten sowie deren Preisen stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung:

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JSM-7800F PRIME

Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM)
JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

  • Abbildungen bei extrem niedriger Beschleunigungsspannung bis zu 10 V
  • Through-the-lens-Detektor mit Energiefilter für Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronenbilder (SE und BSE)
  • Aberrationskorrekturlinse für eine hervorragende Auflösung bei allen Beschleunigungsspannungen und Sondenströmen
  • Gentle Beam (GBSH)-Modus reduziert Auswirkungen von Linsenaberrationen an den Proben (Bühnenabweichung)
  • Große Probenkammer mit mehreren Anschlüssen
  • Intuitive, einfach zu bedienende Benutzeroberfläche
  • Einzigartiger Rückstreudetektor ermöglicht Bildaufnahme sogar bei sehr niedriger Beschleunigungsspannung mit hoher Auflösung

JEM-1400Plus

JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

  • Benutzerfreundliche Oberfläche mit vielen Automatikfunktionen
  • selbsterklärende Benutzerführung für Erstanwender
    via Touchscreen oder Maus
  • funktionsorientierter Expertenmodus
  • Mehrfach-User login
  • Remote Control über Netzwerk
  • vollständig rotationskorrigiertes Linsensystem
  • Minimum Dose System

IB-19510CP

Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen
JEOL Cross Section-Polisher IB-19510CP aus unserem Applikationslabor

Merkmale

Hier einige der Weiterentwicklungen für die noch einfachere und schnellere Verarbeitung vieler verschiedener Werkstoffe:

  • Neue Ionenquelle ermöglicht die Bearbeitung in der halben Zeit
  • Fein- und Intervallpolieren für noch perfektere Proben
  • Die Schnellstart-Funktion reduziert die Gesamtprozesszeit
  • Serienmäßig vorhandene Kamera zur Echtzeitüberwachung des Prozesses
  • Einzigartig ist der integrierte Carbon-Coater zur anschließenden Beobachtung nicht-leitfähiger Proben im REM (optional)

JEM-1010

Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.

Merkmale

  • Benutzerfreundliche Oberfläche mit vielen Automatikfunktionen
  • vollständig rotationskorrigiertes Linsensystem
  • einstellbare Bildrotation zur Probenorientierung
  • Minimum Dose System
  • Serienmäßig mit Doppel-Probenhalter
  • vollwertiges Probengoniometer
  • hochwertiges Vakuumsystem erlaubt den Einsatz einer LaB6-Kathode ohne weitere Modifikationen

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JEOL (Germany) GmbH
Gute Änger 30
85356 Freising

Tel.: +49 8161 9845-0
Fax: +49 8161 9845-100
E-Mail: info@jeol.de

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Vorführ- und Gebrauchtgeräte

 
JEM-1010
Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.
JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    21.08. - 25.08.2017 Schweiz
    SwissTech Convention Center, Lausanne

  • MinPet 2017

    06.09. - 09.09.2017 Österreich
    Universität Innsbruck, Innsbruck

  • SAAM

    07.09. - 08.09.2017 Deutschland
    Forschungszentrum Jülich, Jülich

  • Metallographie-Tagung

    13.09. - 15.09.2017 Deutschland
    Hochschule Aalen, Aalen

 
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