Focused Ion Beam Systeme

JEOL JIB-4000 (Single Beam FIB-System)

Produkt
Spezifikationen
Optionen
Bilder
Info

JEOL JIB-4000 (Single Beam FIB-System)

Das JIB-4000 Focused Ion Beam System ist ein modernes, hochauflösendes, digitales Focused-Ion-Beam System mit speziell entwickelter Ionenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI).

Mit der JIB-4000 können Dünnschichtschnitte für STEM/TEM- sowie Probenquerschnitte für REM-Untersuchungen aus den unterschiedlichsten Materialien hergestellt werden, die sonst nur schwierig oder unmöglich zu präparieren wären. Abbildung und Materialabtrag erfolgen durch eine einzelne Ionensäule, dadurch wird eine hervorragende Genauigkeit bei Zielpräparationen erreicht.

Wahlweise kann das JIB-4000-System mit zwei verschiedenen Probenbühnen geliefert werden. Eine Bulk-Stage dient der Präparation von FIB-Cross-Sections und TEM-Lamellen aus großen Probenstücken, ein Side-Entry-Goniometer erlaubt die besonders komfortable Tip-On-Präparation von (S)TEM-Lamellen. Der Probenhalter kann dabei sowohl in das JIB-4000-System als auch in JEOL Transmissionselektronenmikroskope eingesetzt werden. Dies erlaubt die Überprüfung von Proben im TEM und das eventuelle Nachdünnen in der JIB-4000, ohne die Probe vom Halter nehmen zu müssen.

Die einmalige Twin-Stage Probenkammer erlaubt dabei auch die gemeinsame Installation beider verfügbarer Probenbühnen.

Spezifikationen

Ionenquelle

Ga Flüssigmetall

Beschleunigungs­spannung

1 bis 30 kV

Vergrößerung

×60 bis ×300.000

Auflösung (Bild)

5 nm (bei 30kV)

Maximaler Strahlstrom

60 nA (bei 30kV)

Optionen (Auswahl)

  • JEOL TwinStage System, erlaubt die Installation zweier Probenbühnen
  • Probenschleuse für große Proben
  • Strahlstrommessung
  • Metalldepositionseinheit
  • Software zur automatischen Probenpräparation
  • Interne und/oder externe Manipulatoren

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
Übermitteln Sie uns Ihre Anliegen mit dem nachfolgend aufgeführten Kontaktformular (* = Pflichtfeld).

Kontaktart(en) wählen*

Ihre Kontaktdaten*



Neuigkeiten von JEOL


Ihre Nachricht an JEOL

Weitergabe Ihrer Nutzerdaten an Dritte

Diese Seite verwendet Dienste, die personenbezogene Daten erheben, damit Funktionen für soziale Medien angeboten und Webseitenzugriffe analysiert werden können. Es handelt sich um Google Maps (zur Anzeige unseres Standorts) und Google Analytics (zur lokalen Webseitenanalyse). Diese Dienste führen die Daten ggf. mit weiteren Daten zusammen. Weitere Informationen zu den von uns verwendeten Diensten und zum Widerruf finden Sie in unseren Datenschutzbestimmungen.
Ihre Einwilligung dazu ist freiwillig, für die Nutzung der Webseite nicht notwendig und kann jederzeit mit Wirkung für die Zukunft widerrufen werden.
Sie können die Erhebung und Verarbeitung der folgenden, von dieser Webseite genutzten Dienste ablehnen oder sie akzeptieren.

Die Hinweise zum Datenschutz habe ich gelesen und verstanden. Ich bin mit der Übertragung und Speicherung meiner Daten im Rahmen der Datenschutzerklärung einverstanden. Ich weiß, ich habe das Recht, diese Einwilligung jederzeit ohne Angabe von Gründen zu widerrufen ohne dass die Rechtmäßigkeit, der aufgrund meiner Einwilligung bis zum Widerruf erfolgten Verarbeitung davon berührt wird.