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JEOL Cross Section Polisher IB-19510CP

JEOL Cross Section Polisher IB-19510CP

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Cross Section Polisher IB-19510CP

Der JEOL Cross Section Polisher IB-19510CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen. Weiche und harte Materialien sowie auch Verbundwerkstoffe können mit einem Minimum an Probenschädigung d.h. ohne Verformen und Verschmieren artefaktfrei präpariert werden. Dabei erlaubt eine CCD-Kamera die In-situ-Beobachtung des Präparationsprozesses.
Beim neuen Cross Section Polisher IB-19510CP ermöglicht der neue Betriebsmodus "Schnell- und Feinpolieren" eine automatische Kombination der bewährten beiden Modi. Somit ist ein noch höherer Probendurchsatz möglich.
Die neue Betriebsart "Intervallpolieren" ist optimiert für die Bearbeitung wärmeempfindlicher Proben.

Merkmale

Hier einige der Weiterentwicklungen für die noch einfachere und schnellere Verarbeitung vieler verschiedener Werkstoffe:

  • Neue Ionenquelle ermöglicht die Bearbeitung in der halben Zeit
  • Fein- und Intervallpolieren für noch perfektere Proben
  • Die Schnellstart-Funktion reduziert die Gesamtprozesszeit
  • Serienmäßig vorhandene Kamera zur Echtzeitüberwachung des Prozesses
  • Einzigartig ist der integrierte Carbon-Coater zur anschließenden Beobachtung nicht-leitfähiger Proben im REM (optional)
 
 

Neue schnelle Ionenquelle
Leistung 500 μm/h
(Durchschnitt bei 8kV/2 Std.)

Bearbeitungsergebnisse bei 8kV, 2 Stunden (Si)
Bearbeitungsergebnisse bei 8kV, 2 Stunden (Si)

Einstellbare Oberflächengüte
Durch Feinjustierung der Parameter nach dem Schnellpolieren lassen sich Ionenschäden am Querschnitt verringern.

Einstellbare Oberflächengüte
 
 
 

Weniger Schäden beim Intervallpolieren
Die Normalbetriebsart "Intervallpolieren" verringert den Wärmeeintrag auf die Probe auf ein Minimum.

Normalpolieren
Normalpolieren
Intervallpolieren
Intervallpolieren
 

(Probe: Sn-Pb, eutektisch)

 
 

Prozessüberwachung
Eine CCD-Kamera erlaubt die Überwachung des Schneidprozesses in Echtzeit. Die Vergrößerung ist einstellbar.

Integrierter Carbon Coater (optional)

Ideale Unterstützung von EBSD- und EDS-Messungen an nichtleitenden Proben durch die Aufbringung einer Karbonbeschichtung.

Rotationshalter (optional)
Der Träger erlaubt den Ionenstrahlschnitt auch bei gedrehter Probe.
So lassen sich Querschnitte anfertigen und Oberflächen bearbeiten.
Besonders geeignet für Proben, die zu Artefakten neigen, z. B. poröse Werkstoffe, Pulver oder Fasern.
Ideal zur Nachbearbeitung von Verformungen nach dem Schneiden.

Spezifikationen



Ionen­beschleu­nigungs-spannung

2 - 8 kV

Ionen­strahl­durchmesser

500 μm (Halbwerts­breite)

Polier­geschwindig­keit

500 μm / Std (mittlere Geschwindig­keit in 2 Stunden bei 8 kV, Si, Abstand zum Rand: 100 μm)

Max. Proben­größe

11 mm (B) × 10 mm (T) × 2 mm (H)

Proben­bewegung

X: ± 10 mm, Y: ± 3 mm

Stell­bereich Proben­drehung

±5°

Schwenk­winkel Probe

Probe schwenkt beim Fräsen um 30°

Bedienung

Touch­panel­anzeige, 165 mm

Arbeitsgas

Argon

Druck­messung

Penning-Vakuum­meter

Pump­system

TMP, RP

Maße und Gewichte

Grundgerät:
545 mm (B) × 550 mm (T) × 420 mm (H), 66 kg
Rotations­pumpe:
150 mm (B) × 427 mm (T) × 230 mm (H), 16 kg

Installations­anfor­derungen

Strom­versorgung

100 - 120 V AC (einphasig) 10%, 50/60 Hz, 0,5 - 0,6 kVA

Erdung

max. 100 Ω

Argon

Druck: 0,15 ± 0,05 MPa (1,0 - 2,0 kg/cm²)
Reinheit: min. 99,9999%
(Argon­versorgung, Druck­gasflasche und Regler kunden­seitig)
Schlauch­anschluss: JIS B0203, Rc 1/4

Raum­temperatur

15 - 25° C

Luft­feuchtigkeit

max. 60%

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

 

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Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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