JEOL - Rasterelektronenmikroskope mit thermischer Feldemissions-Kathode

Raster­elektronen­mikroskope
mit thermischer Feld­emissions-Kathode

JEOL Rasterelektronenmikroskope mit thermischer in-lens-Feldemissionskathode kombinieren einen kleinen Strahldurchmesser und einen hohen, langzeitstabilen Probenstrom.

Sie sind daher prädestiniert für schnelle, präzise chemische Analysen mittels EDX und WDX, für kristallographische Untersuchungen (EBSD) sowie für hochauflösende Elektronenstrahllithographie.

 
 

Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL JSM-7200F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    JEOL JSM-7200F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    Beim neuen JSM-7200F wird dank der patentierten In-Lens Schottky-Plus-Technology vor allem bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung (1,6 nm bei 1 kV) erreicht und zugleich kann ein hoher Probenstrom von über 300nA erzeugt werden.

  • JEOL JSM-7610F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    JEOL JSM-7610F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    Das JEOL JSM-7610F ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer neu entwickelten, thermischen Feldemissionsquelle. Die geringe Energiebreite der emittierten Elektronen ermöglicht eine herausragende Fokussierbarkeit des Elektronenstrahls und damit eine hervorragende Auflösung.

  • JEOL JSM-7800F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    JEOL JSM-7800F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    Das JEOL JSM-7800F ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer neu entwickelten, thermischen Feldemissionsquelle. Die geringe Energiebreite der emittierten Elektronen ergibt die bestmögliche Fokussierbarkeit des Elektronenstrahls und damit eine hervorragende Auflösung.

  • JEOL JSM-7800F PRIME Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)

    JEOL JSM-7800F PRIME Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)

    Branchenführendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop für alle Proben- und Analysetypen. Das JSM-7800F PRIME setzt mit seiner herausragend hohen Auflösung und Stabilität neue Standards für Abbildungen und Analyseverfahren im Bereich der Rasterelektronenmikroskopie.

  • JEOL JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    JEOL JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

    Das neue JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop kombiniert absolute Höchstauflösung im elektronenmikroskopischen Bild mit einzigartigen Analysemöglichkeiten. Durch eine Vielzahl von Automatik- und Hilfe-Funktionen sowie einem ultra-schnellen Probentransfer erlaubt das neue JSM-7900F einen noch nie da gewesenen Probendurchsatz.

  • JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    Das JSM-IT300HR ist die neueste Innovation in der beliebten und preisgekrönten JEOL InTouchScope Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe.

  • JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™ - hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik.

 
 

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

Kontakt, Termine und Wissenswertes

Kontakt

JEOL (Germany) GmbH
Gute Änger 30
85356 Freising

Tel.: +49 8161 9845-0
Fax: +49 8161 9845-100
E-Mail: info@jeol.de

Zum Kontaktformular


Ansprechpartner

Registrierung
Newsletter abonnieren

Durch die kostenlose Registrierung erhalten Sie zahlreiche zusätzliche Informationen und können einen unserer begehrten Gutscheine für die JEOL-Akademie gewinnen.

Login


Vorführ- und Gebrauchtgeräte

 
JEM-1010
Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.
JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

Kundenumfrage
Sagen Sie uns Ihre Meinung

Ihre Meinung ist uns wichtig. Bitte nehmen Sie sich ein paar Minuten Zeit und helfen Sie uns durch Ihre Teilnahme an unserer Kundenbefragung unseren Service noch weiter zu verbessern.

JEOL-Seminare

Die nächsten Seminartermine:

Keine Einträge vorhanden

JEOL-Akademie

Die nächsten Schulungstermine:

Messetermine

 
 
Externer Link zur Webpräsenz: www.jeol.com

Globale Website

 
Externer Link zur Webpräsenz: www.jeol-arm.eu

JEOL ARM-Owner-Group

 
 
RSS
Kontakt

Kontakt

JEOL (Germany) GmbH
Gute Änger 30
85356 Freising

Tel.: +49 8161 9845-0
Fax: +49 8161 9845-100
E-Mail: info@jeol.de

Globale Website

Globale Website

Externer Link zur Webpräsenz: www.jeol.com

JEOL ARM-Owner-Group

Externer Link zur Webpräsenz: www.jeol-arm.eu