JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL JSM-IT300

JEOL JSM-IT300 – die neue Generation
der JEOL Rasterelektronen­mikroskope

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JEOL JSM-IT300

Das JEOL JSM-IT300 ist die neueste Innovation in der beliebten Wolfram / LaB6 Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Dieses hochleistungsfähige und vielseitige Rasterelektronenmikroskop kann für die verschiedensten Anwendungen genutzt werden.

Für das neue analytische REM mit intuitivem Touchscreen und einem einzigartigen Design fusioniert das bewährte und weit verbreitete analytische high-performance REM JSM-6610 mit dem preisgekrönten Softwarekonzept des InTouchScope™.

Durch die langjährige Erfahrung bei der Entwicklung von Rasterelektronenmikroskopen konnten Eigenschaften und Performance von JEOL-Geräten kontinuierlich gesteigert werden. Dadurch bietet das JEOL JSM-IT300 unter anderem die bestmögliche Bildauflösung neben einer Vielzahl von zusätzlichen hilfreichen Tools auf der Bedieneroberfläche.

Vielseitigkeit und eine hohe Auflösung über den kompletten Vergrößerungsbereich von 5x - 300.000x sind die Markenzeichen der JEOL-REM Baureihe und das JSM-IT300 bietet diese Funktionen auf höchstem Niveau.

Merkmale

  • Höchste Bildauflösung mit Wolfram Quelle (LaB6 optional)
  • Vollständig motorisierte 5-Achsen-Probenbühne mit asynchroner Bewegung
  • Integrierte Farbbild Navigation
  • Standardmäßiger multi-segment Rückstreuelektronendetektor (BSE) an Niedervakuum Modellen (LV) mit hoher Empfindlichkeit bei geringer Spannung und schnellen Abtastraten (LV SE Detektor optional)
  • Intelligente Probenbehandlung
    (Erstellen, Speichern und Abrufen von Rezepten)
  • Multiples Live-Bild (Bild-in-Bild Funktion, Signalmischung etc.)
  • Video Bilderfassung (.avi Format)
  • Große Probenkammer und -bühne für Objekte
    mit einem Durchmesser bis 200mm
  • Neue intuitive Software mit multi-touch Benutzeroberfläche

Spezifikationen

Elektronenoptik

Beschleunigungs­spannung

0.3 kV - 30 kV

Auflösung (HV)

3.0 nm (30kV), 15nm (1kV)

Auflösung (LV)

4.0 nm (30kV, BED)

Vergrößerungs­bereich

5x to 300,000x

 
 
Probenbühne

Verfahrwege

5-Achsen euzentrisch
X: 125 mm
Y: 100 mm
Z: 80 mm
T: -10 to +90°
R: 360° (endlos)

 
 

Optionen

  • Rückstreuelektronendetektor (BSE) *1
  • Niedervakuum Sekundärelektronendetektor (LV SE)
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS)
  • Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS)
  • EBSD-Kamera
  • Schleuse
  • Probenbühnen Navigationssystem
  • Probenkammer Mikroskop
  • Bedienkonsole
  • LaB6 Elektronenquelle
  • 3D Vermessungssoftware *2


*1 Standard bei LV/LA
*2 Spezielle Software ist für Messungen erforderlich

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

 

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