JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - Röntgenanalytik

Röntgenanalytik

Das Produktspektrum der JEOL Röntgenanalysensysteme umfasst energie- und wellenlängendispersive Systeme sowie Systeme zur Röntgenfluoreszenzanalytik.

 
 

Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.


Wellenlängendispersive Elementanalytik (WDX)
JEOL Elektronenstrahl-Mikrosonden sind gekennzeichnet durch eine hochstabile Elektronenoptik in Verbindung mit wellenlängendispersiven Kristallspektrometern (WDS) zur Röntgenmikroanalyse von festen Proben aller Art. Der Bereich der analysierbaren Elemente reicht dabei von Beryllium bis Uran.
Zur Rubrik "Elektronenstrahl-Mikrosonden"

  • Energiedispersive Röntgenanalytik - JEOL JED-2300 Analysis Station

    Energiedispersive Röntgenanalytik - JEOL JED-2300 Analysis Station

    Für ein modernes Raster- oder Transmissionselektronenmikroskop gehört heute ein integriertes Röntgenmikroanalysesystem in vielen Fällen zur Standardausstattung. Für die Elektronenstrahl-Mikrosonden der JXA-Serie hat JEOL ein spezielles Analysesystem entwickelt.

  • Systeme zur Leichtelementanalyse

    Systeme zur Leichtelementanalyse

    JEOL als einer der größten Hersteller für energiedispersive Röntgenanalysesysteme bietet auch äußerst leistungsfähige Systeme für die Leichtelementanalytik. Genutzt wird die Leichtelementanalytik für die Analyse leichter Elemente mit hoher Energieauflösung.

  • Systeme zur Röntgenfluoreszenzanalyse

    Systeme zur Röntgenfluoreszenzanalyse

    JEOL als einer der größten Hersteller für energiedispersive Röntgenanalysesysteme bietet auch äußerst leistungsfähige Systeme für die Röntgenfluoreszenzanalytik. Genutzt wird die Röntgenfluoreszenzanalytik für die hochempfindliche Detektion und Quantifizierung von (Spuren-)Elementen.

 
 

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    09.05. - 12.05.2017 Deutschland
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