JEOL - Systeme zur Leichtelementanalyse

Systeme zur Leicht­element­analyse

JEOL als einer der größten Hersteller für energiedispersive Röntgenanalysesysteme bietet auch äußerst leistungsfähige Systeme für die Leichtelementanalytik.

Genutzt wird die Leichtelementanalytik für die Analyse leichter Elemente mit hoher Energieauflösung. Zugleich können chemische Bindungszustände analysiert werden und Spurenelementanalysen durchgeführt werden.

 
 

Modelle

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

    JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

    Das SXES ist ein leistungsstarkes Spektrometer mit hoher Energieauflösung zur Analyse leichter Elemente. Es ist als Teil eines integrierten Analysesystems zur Verwendung mit der Mikrosonde oder zur Nutzung als eigenständiger Detektor vorgesehen.

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

 
 
 
 

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Gute Änger 30
85356 Freising

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JEM-1010
Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.
JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
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JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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