JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - TEMs mit 200 kV Beschleunigungsspannung

TEMs mit 200 kV Beschleunigungs­spannung

Modelle:

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  • JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEM-2100Plus ist ein Allround-Transmissionselektronenmikroskop, das eine stabile und leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint. Das Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungsgebieten in der Werkstoffkunde bis hin zu medizinischen und biologischen Fragestellungen.

  • JEOL JEM-2200FS Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-2200FS Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEOL JEM-2200FS basiert auf dem JEM-2100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter). Mit diesem Gerät steht ein optimal konfiguriertes high-end-TEM für energiegefilterte Abbildung zur Verfügung.

  • JEOL JEM-2800 Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-2800 Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEM-2800 ist ein Feldemissions-STEM, speziell für Arbeitsumgebungen konzipiert, die höchste Leistung bei hoher Effizienz verlangen. Die Bedienung des JEM-2800 ist vergleichbar mit der eines Rasterelektronenmikroskops, allerdings wird hier die hohe Auflösung eines TEMs erreicht.

  • JEOL JEM-ARM200F Cs-korrigiertes Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-ARM200F Cs-korrigiertes Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEOL JEM-ARM200F (Atomic Resolution Microscope) ist ein Höchstleistungs-TEM mit Feldemissions-Kathode für Untersuchungen auf atomarem Niveau in Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Biowissenschaften.

  • JEM-F200 Analytisches Transmissionselektronenmikroskop

    JEM-F200 Analytisches Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde von Grund auf neu konzipiert mit dem Ziel, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken.

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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Gute Änger 30
85356 Freising

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    20.04. - 21.04.2017 Österreich
    Wien

  • EMAS 2017

    07.05. - 11.05.2017 Deutschland
    Konzilgebäude Konstanz, Konstanz

  • CONTROL 2017

    09.05. - 12.05.2017 Deutschland
    Messe Stuttgart, Stuttgart

  • SCANDEM 2017

    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

 
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