JEOL JEM-ARM200F NEOARM Analytisches Transmissionselektronenmikroskop

JEOL JEM-ARM200F NEOARM Analytisches Trans­missions­elektronen­mikroskop

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JEOL JEM-ARM200F NEOARM Analytisches Trans­missions­elektronen­mikroskop

Das neue JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen neuen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen atomare Auflösung bei hohen Spannungen bis 200kV und bei niedrigen Spannungen bis 30 kV.

Durch das JEOL Cosmos System kann eine schnelle und präzise Optimierung des Korrektors automatisch durchgeführt werden und ermöglicht somit einen hohen Probendurchsatz. Das neue eABF STEM-Detektionssystem des „NEOARM“ erzielt bei niedrigen Beschleunigungsspannungen durch einen deutlich verbesserten Kontrast sehr hohe Auflösungen bei der Abbildung leichter Elemente. Das äußere Design des „NEOARM“ wurde in den Farben Weiß und Silber neu gestaltet und für eine Remote-Bedienung optimiert.

Merkmale

  1. Sphärische Aberration (Cs) ASCOR-Korrektror (Advanced STEM Corrector)
    Der neue in das „NEOARM“ integrierte ASCOR-Korrektor kann problemlos den sechsfachen Astigmatismus kompensieren, der die Auflösung nach der herkömlichen Cs-Korrektur limitiert. Die Kombination von ASCOR und kalter Feldemissionsquelle ergibt eine geringe chromatische Aberration und erweitert das Beugungslimit. Dadurch wird eine höhere Auflösung als je zuvor erreicht.

  2. Software JEOL COSMO™ zur automatischen Korrektur der Aberration (Corrector System Module)
    JEOL COSMO™ verwendet zur Korrektur der Abweichung einen neuen Algorithmus (SRAM: Segmented Ronchigram Auto-correlation Matrix). Somit ist keine spezielle Probe erforderlich, was zu einer hochpräzisen und schnellen Korrektur von Aberrationen höherer Ordnung führt. Dieses System ermöglicht aufgrund der schnellen Daten-Verarbeitung im Vergleich zu herkömmlichen Systemen einen einfachen, automatischen Korrektor-Betrieb für hohen Probendurchsatz.

  3. Neues ABF-Detektor-System (Annular Bright Field)
    Der JEOL ABF-Detektor hat sich als Referenz zur Erzeugung von hochauflösenden Abbildungen von Leichtelementen etabliert. Das "NEOARM" ermöglicht nochmals verbesserten Kontrast von Leichtelementen durch eine optimierte ABF-Technik (e-ABF: enhanced-ABF). Diese Fähigkeit erleichtert die atomare Strukturbeobachtung von Materialien, die leichte Elemente enthalten.

  4. Neuer Perfect-Sight-Detektor
    Der in das „NEOARM" integrierte Perfect-Sight-Detektor verwendet Hybrid-Szintillatoren. Dadurch kann der Detektor kontrastreiche und quantitative STEM-Abbildungen unabhängig von der Beschleunigungsspannung erzeugen.

  5. Kamera-System
    Im "NEOARM" ist ein „Viewing Camera System“ verbaut. Dieses duale Kamera-System ermöglicht eine einfache Remote-Steuerung selbst über größte Distanzen hinweg.

Spezifikationen

Auflösung*1

STEM HAADF:70 pm (200 kV), 100 pm (80 kV), 160 pm (30 kV)
TEM Info-Limit: 100 pm (200 kV), 110 pm (80 kV), 250 pm (30 kV)

Elektronen­quelle

Kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG)

Korrektor

STEM: NEO ASCOR HOAC*2, TEM: CETCOR

Korrektor-Einstellung

NEO JEOL COSMO™ Auto tuning System Ad-hock tune (SIAM)

Beschleu­nigungs­spannung

30 bis 200 kV (30, 80, 200 kV: Standard. 60, 120 kV: Optional)

Magnetfeldfreier Modus

Lorentz Objektiveinstellungen (×50 bis x80 k auf dem Schirm)

Bewegungs­bereich Probenbühne

X, Y and Z
Super-feiner mechanischer Antrieb, ultrafeine Piezo-Antriebe

Bedienungsart

Remote-Bedienung

*1 UHR-Polschuh mit STEM/TEM Cs-Korrektor)
*2 HOAC (Korrektur höherer Ordnungen)

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

 

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