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JEOL - TEMs mit 300 kV Beschleunigungsspannung

TEMs mit 300 kV Beschleunigungs­spannung

Modelle:

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  • JEOL JEM-3200FS Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-3200FS Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEOL JEM-3200FS basiert auf dem JEM-3100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter). Mit diesem Gerät steht ein optimal konfiguriertes high-end-TEM für energiegefilterte Abbildung zur Verfügung.

  • JEOL JEM-3200FSC Feldemissions-Cryo-Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-3200FSC Feldemissions-Cryo-Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEOL JEM-3200FSC basiert auf dem JEM-3100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter) und einem Flüssig-He gekühlten Side-Entry-Goniometer. Das extrem stabile Goniometer wurde speziell für die Tomographie mit hohen Kippwinkeln bei tiefen Temperaturen konzipiert.

  • JEOL JEM-ARM300F – neues ultrahochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-ARM300F – neues ultrahochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop

    Als Weiterentwicklung des bewährten JEM-ARM200F verfügt das neue 300kV Transmissionselektronenmikroskop JEM-ARM300F über eigens von JEOL entwickelte Dodekapol-Korrektoren. Das Gerät mit dem Beinamen GRAND ARM erreicht mit diesen eine Auflösung von bis zu 63 pm im STEM-Betrieb.

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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85356 Freising

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    Johannes Kepler Universität, Linz

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