Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-ARM300F2 GrandARM™ 2 – Die neue Referenz ultra-hochauflösender Trans­missions­elektronen­mikroskope

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JEOL JEM-ARM300F2 GrandARM™ 2 – Die neue Referenz der Trans­missions­elektronen­mikroskope

Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht die neueste Generation der JEOL Cold-FEG-Systeme eine für kalte Feldemitter extrem stabile Emission über viele Stunden hinweg. Daneben reduziert das neue „Cover-in-Cover“-Konzept externe Einflüsse wie Temperatur- bzw. Luftdruckschwankungen oder Raumschall. Das High-End-TEM verfügt über eigens von JEOL entwickelte Dodekapol-Cs-Korrektoren, die mittels der eigenen Korrektor-Tuning-Einheit „Cosmo“ bis zur 3. Ordnung inkl. 4-fachem Astigmatismus automatisch korrigiert werden. So erreicht System eine STEM-Auflösung von weniger als 53 pm.
Je nach Anwendung kann das GRAND ARM 2 für die ultrahochauflösende Bildgebung mit großen EDX-Detektoren ausgestattet oder für maximale analytische Leistungsfähigkeit und in-situ-Analysen maßgeschneidert werden.

Merkmale

  1. Ultrahochauflösende Bildgebung
    Dank des patentierten Cs-Korrektors wird im Rasterbetrieb (STEM) bei einer Beschleunigungsspannung von 300 kV eine Auflösung von 53 pm erreicht.

  2. Kalte Hochleistungs-Feldemissionsquelle mit großer Helligkeit und geringer Energiedispersion
    Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke Strahl ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und schnelle Analyse.

  3. Integrierte JEOL Aberrationskorrektoren
    Das GRAND ARM 2 beinhaltet die von JEOL selbst entwickelten Korrektoren für die sphärische Aberration im Bilderzeugungs- (TEM-Korrektur) und Beleuchtungssystem (STEM-Korrektur) mit Korrektur aller axialen Bildfehler bis zur 5. Ordnung.

  4. Automatische Aberrationskorrektur
    JEOL COSMO (JEOL Corrector System Module) zur automatischen Korrektur bis zur 3. Ordnung (4-zähliger Astigmatismus). Automatische STEM-Korrektur über 2 Ronchigramme, die an einer amorphen Probenstelle aufgenommen werden können.

  5. Maßgeschneiderte Objektiv-Polschuhe
    Die beiden auswählbaren Polschuhe für das Objektiv ermöglichen eine Vielzahl unterschiedlicher Anwendungen. Der neue FHP2-Polschuh ermöglicht zugleich höchste laterale Auflösung und die Verwendung großflächiger EDX-Detektoren. Die optimierte Geometrie erlaubt die Aufnahme sauberer Spektren mit hoher Geschwindigkeit.

  6. Robustes Design
    Die Säule bietet bei einem Durchmesser von 330 mm ein erhöhtes Maß an mechanischer Stabilität. Das „Cover-in-Cover“-Konzept trägt zudem zu einer erhöhten Stabilität und Unempfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen bei.

  7. Vielzahl möglicher Detektoren
    Neben den bekannten BF-, DF-, HAADF-Detektoren können annulare BF-Signale (für leichte Elemente) und auch differentielle Phasenkontrast-Abbildungen (DPC, für interne Felder) in Echtzeit aufgenommen werden. Das neue Optimum-BF-System ermöglicht durch besonders effiziente Bildfilterung kontrastreiche Aufnahmen bei niedrigster Strahldosis. Plastische Bilder bzw. Oberflächeninformationen können mit einem SE-/BSE-Detektor erzeugt werden. Das Portfolio wird durch eine breite Anzahl kompatibler TEM- und Pixelated-STEM-Kameras sowie großflächige EDX-Detektoren komplettiert.


Technische Angaben

TEM-Auflösung (Gitter)

≤ 50 pm (TEM-Korrektor)

STEM-Auflösung

≤ 50 pm (TEM-Korrektor)

EDX-Raumwinkel

max. 2,2 sr (Dual-EDX)

Kippwinkel

max. X: ± 36°/ Y: ± 31°


Optionen

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