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ARM (Atomic Resolution Microscopes) Transmissionselektronenmikroskope (TEM) mit bis zu 1.3 MeV Beschleunigungsspannung

ARM (Atomic Resolution Microscopes) Trans­missions­elektronen­mikroskope (TEM) mit bis zu 1.3 MeV Beschleu­nigungs­spannung

Seit JEOL 1963 mit der Entwicklung von Hochspannungs-TEMs begonnen hat, wurden insgesamt 20 JEOL Ultra-High-Voltage Mikroskope weltweit installiert.

Zu deren herausragenden Merkmalen gehören das Auflösungsvermögen, die Durchstrahlbarkeit dicker Proben und auch die in-situ Beobachtung von strahlinduzierten Probenveränderungen.

JEOL hat für diese Höchstspannungs-Mikroskope eine Vielzahl neuer Entwicklungen realisiert, z.B. Objektivlinsen mit minimalen Aberrationen, Top-Entry-Goniometer mit hohen Kippwinkeln und Z-Kontrolle. Eine besondere Herausforderung stellen auch die Elektronik zur Stabilität der Hochspannung und der Linsenströme im Bereich besser 1 ppm sowie die Schwingungsisolierung dar.

 
 

Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL JEM-ARM1300S Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-ARM1300S Transmissionselektronenmikroskop

    Das ARM1300S ist ein side-entry-Ultrahochspannungs Mikroskop für in-situ Abbildung auf atomarem Niveau. Die moderne Rechnersteuerung einschließlich Remote Control macht es zu einem Elektronenmikroskop der neuesten Generation.

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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