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JEOL AccuTOF™ GCv 4G

JEOL AccuTOF™ GCv 4G

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JEOL AccuTOF™ GCv 4G

Das AccuTOF™ GCv 4G ist ein hochauflösendes GC TOF Massenspektrometer. Es nutzt einen Time-of-Flight Analyzer, der es erlaubt, sehr leicht ein hochaufgelöstes präzises Massenspektrum mit voller Massenbereichssensibilität zu messen. Dank des preisgekrönten AccuTOF™ Time-of-Flight Analyzers werden darüber hinaus schnelle Spektralerfassungsraten und eine weite dynamische Bandbreite erreicht. AccuTOF™ GCv ist daher perfekt dafür geeignet, komplexe Gemische aus vollkommen unbekannten Substanzen zu analysieren – selbst in niedriger Konzentration.

Neue softwarebasierte Automatisierungsfunktionen machen das Arbeiten und die Datenverwaltung noch komfortabler. Eine weitere Neuheit ist die optional verfügbare EI/FI/FD Kombinations-Ionenquelle. Diese steigert nicht nur die Probendurchsatzleistung, sondern vereinfacht auch das Arbeiten und verlängert die Laufzeit.

Im Gehäuse sind alle erforderlichen Spektrometerkomponenten, einschließlich der Pumpen, auf einer kompakten Benchtop-Grundfläche integriert. Dieses Design spart nicht nur Platz, sondern trägt auch dazu bei, dass Temperatur-sensible Bauteile wie zum Beispiel die Flugröhre unter kontrollierten Bedingungen bleiben. Die allgemeine Gerätestabilität und Wiederholbarkeit der Experimente werden daher außerordentlich verbessert. Zudem ist AccuTOF™ GCv 4G  einzigartig dafür konzipiert 99% der Trägergasionen zu beseitigen bevor sie in die Flugröhre einströmen. Da der Großteil der Trägergasionen den Detektor nie erreicht, wird die Lebenszeit der MCP erheblich verlängert.

Weitere Informationen zum AccuTOF™ GCv 4G  finden  Sie hier (englisch).

Spezifikationen



Gerätetyp

TOF-Massen­spektro­meter

Massen­genauigkeit

1.5mDa oder 4 ppm (r.m.s.)

Auflösungs­vermögen

R ≥ 8000 (m/z 617)

Empfind­lich­keit

S/N ≥ 100 (OFN 1pg)

Scan-Geschwindig­keit

Bis zu 50 Spektren/sec

Massen­bereich

m/z 4 ­ 5000

Ionisations­quellen

EI (+/-), CI (+/-), FI, FD, DEI (+/-), DCI (+/-), LIFDI

Proben­zuführung

GC, GC x GC, DEP (direct exposure probe), DIP (direct insertion probe)

Nachweis­grenzen

s/n >100 @ OFN 1 pg/µl

 
 

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

 

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