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JEOL (Germany) GmbH - Schulungsangebote
 
 
60 Years NMR + 50 Years SEM

REM Advanced 2-2017

Verfügbarkeit:  6
 
 
Art.-Nr.: RA 2-2017
Datum: 29.06.2017, 09:30-16:30 Uhr
Ort: JEOL (Germany) GmbH, Freising
Preis: 750,00 EUR
inkl. MwSt.

Deutsche Beschreibung

Rasterelektronenmikroskopie (REM) Fortgeschrittenenkurs -
REM Advanced

  • Sprache: DE
  • Ort / Raum: JEOL (Germany) GmbH, Freising / Application Center
  • Schulungsleiter:
    Dr. Sonja Gürster, JEOL (Germany) GmbH
    Dr. Jürgen Heindl, JEOL (Germany) GmbH
    Dr. Emanuel Katzmann, JEOL (Germany) GmbH
  • Schulungsunterlagen sind im Preis enthalten

Der Fortgeschrittenenkurs Rasterelektronenmikroskopie bietet eine fundierte Fortführung in der Nutzung des Rasterelektronenmikroskops.


Im Einzelnen werden die folgenden Themen in Theorie und Praxis behandelt:

  • Einfluss der Spannung auf die Bildinformation
  • Energie-dispersive Elementanalytik (EDS)
  • Qualitativ und standardfreie quantitative Analyse
  • Mapping und LineScan
  • In einem Ausblick wird der Unterschied zwischen REM mit thermischer- und Feldemissions-Kathode dargestellt


Ziel des Fortgeschrittenenkurses Rasterelektronenmikroskopie ist es, Anwendern von Rasterelektronenmikroskopen eine fundierte Fortführung zu geben und weiterführende Arbeit mit einem REM zu ermöglichen.


Zielgruppe sind besonders Anwender von Elektronenmikroskopen die Grundkenntnisse haben und mit dem REM prinzipiell umgehen können.

Englische Beschreibung

Please note that this course will be held only in German.

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Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
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