Globale Struktur - die JEOL Gruppe

Globale Struktur - die JEOL Gruppe

JEOL ist der weltweit größte Anbieter von elektronenoptischen und analytischen Systemen zur Forschung und Entwicklung in den Bereichen Werkstoffforschung, Nanotechnologie, Medizin, Biologie und Biotechnologie.

Mit über 3.000 Mitarbeitern weltweit werden unterschiedliche Systeme zur mikroskopischen Abbildung von Oberflächen und inneren Strukturen der Materie sowie Systeme zur Analyse der chemischen Zusammensetzung im Mikro- und Nano-Bereich entwickelt und gefertigt.

Durch langjährige Erfahrung, einzigartige Technologien, Produkte und Services ermöglicht JEOL seinen Kunden signifikante Durchbrüche in Produktentwicklung und Forschung.

Das JEOL Produktportfolio umfasst unterschiedlichste wissenschaftliche und industrielle Geräte, basierend auf fünf Produktgruppen:
Elektronenoptik, Analytische Systeme, Halbleitertechnik, Dünnfilm-Beschichtung und Medizintechnik.

Mit der Entwicklung, Produktion und Applikation wissenschaftlicher High-End Geräte dringt die JEOL Gruppe auf internationaler Ebene immer weiter vor. Der internationale Vertrieb der in Japan produzierten Anlagen erfolgt über Niederlassungen in mehr als 30 Ländern weltweit, mit Standorten u.a. in Tokyo, München, Boston, Paris, London, Brüssel, Mailand, Stockholm, Singapur und Peking.

Das globale Vertriebsnetz der JEOL Gruppe 
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Informationen zur Firmengeschichte finden Sie hier.

Ansprechpartner und Adressen der JEOL Niederlassungen in anderen Ländern finden Sie unter: www.jeol.com.

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D-85386 Eching b. München / Germany

Tel.: +49 8161 9845-0
Fax: +49 8161 9845-100
E-Mail: info@jeol.de

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Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
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Das JEOL JSM-7600F ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer neu entwickelten, thermischen Feldemissionsquelle.
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Sehr kompaktes und leistungsstarkes Tisch-REM, das die Vorzüge optischer Mikroskope und moderner Rasterelektronenmikroskope vereint.
 
 

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