JEOL Focused-Ion-Beam-Systeme (FIB)

Basierend auf den bewährten JEOL Elektronen- und Ionenoptischen Geräten hat JEOL FIB-Systeme entwickelt mit denen schnell und präzise Querschnittsproben für TEM- und REM-Anwendungen hergestellt werden können.

Verfügbar sind sowohl Systeme, die über eine Ionenquelle für die Präparation und Abbildung verfügen als auch Zwei-Strahlgeräte, die die Kombination einer Elektronensäule mit einer FIB-Quelle bieten. Leistungsfähige Softwarepakete zur automatisierten FIB-Präparation sowie zur FIB-Tomographie runden das JEOL FIB-Produktspektrum ab.


Modelle:
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