Vom Focused Ion Beam (FIB) System für die Präparation im Nanometerbereich bis zum Cross Section Polisher für große Proben, bietet JEOL eine große Auswahl von speziellen Geräten für die schnelle und genaue Präparation von Querschnitts- und (S)TEM-Proben aus unterschiedlichen Materialien.
Modelle:
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JEOL Präparationssysteme
JEOL IB-09010CP Cross Section Polisher
Der JEOL Cross Section Polisher IB-09010CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Augeranwendungen. Weiche, harte und Verbundwerkstoffe können mit einem Minimum an Probenschädigung ...
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JEOL IS Ion Slicer EM-09100
Der Ion Slicer ist ein innovatives Produkt zur Probenpräparation für TEM und STEM. Das System erlaubt die schnelle und einfache Präparation von (S)TEM-Proben auch heterogener Materialien mittels Ar-Ionenstrahl. An die Probenvorbereitung werden dabei nur geringe Anforderungen ...
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JEOL JEM-9320FIB
Das JEM-9320FIB Focused Ion Beam System ist ein modernes, hochauflösendes, digitales Focused-Ion-Beam System mit neuentwickelter Ionenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI). Mit der JEM-9320FIB können Dünnschichtschnitte für STEM/TEM- sowie ...
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Messetermine
DMG Jahrestagung
19.-22. September 2010
Münster
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