JEOL (Germany) GmbH


JEOL (Germany) GmbH

Rasterelektronenmikroskope mit ungeheizten Feldemissionskathoden (CFEG)

JEOL Rasterelektronenmikroskope mit einer ungeheizten Feldemissionskathode sind Höchstauflösungsmikroskope, die durch die geringe Energiebreite der emittierten Elektronen eine herausragende Fokussierbarkeit des Elektronenstrahls und damit eine hervorragende Auflösung garantieren.


Modelle:
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JEOL JSM-6701F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Das JEOL JSM-6701F ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, mit einer semi-in-lens-Objektivlinse. Es erlaubt die kontrastreiche Betrachtung von Nanostrukturen bei sehr hohen Auflösungen. Auflösung 1.0 nm bei 30 kV, 2.2 nm bei 1 kV ...

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JEOL JSM-7500F/FA Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Das JEOL JSM-7500F wurde gegenüber dem JSM-7401F besonders in Bezug auf die Stabilität des Systems weiterentwickelt. Somit kann dieses Gerät auch in für Höchstauflösung weniger geeigneten Umgebungsbedingungen betrieben werden. Das JEOL JSM-7500FA verfügt darüber hinaus ...

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JEOL JSM-7700F Cs/Cc-korrigiertes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Das JEOL JSM-7700F ist das erste und einzige, aberrationskorrigierte (Cs und Cc) Rasterelektronenmikroskop der Welt. Das JSM-7700F bietet die bestmögliche Bildauflösung bei sehr einfacher Bedienung ...

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DMG Jahrestagung

19.-22. September 2010

Münster


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