JEOL Rasterelektronenmikroskope mit thermischer in-lens-Feldemissionskathode kombinieren einen kleinen Strahldurchmesser und einen hohen, langzeitstabilen Probenstrom.
Sie sind daher prädestiniert für schnelle, präzise chemische Analysen mittels EDX und WDX, für kristallographische Untersuchungen (EBSD) sowie für hochauflösende Elektronenstrahllithographie.
Modelle:
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Rasterelektronenmikroskope mit thermischer Feldemissions-Kathode
JEOL JSM-7001F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Das JEOL JSM-7001F mit seiner einzigartigen in-lens Schottky-Feldemissionskathode bietet bei einer exzellenten Auflösung hohe Probenströme bis zu 200 nA für anspruchsvolle Analytik mit EDS, WDX, EBSD und Kathodolumineszenz. Der hohe Maximalstrom ...
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JEOL JSM-7600F/FA Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Das JEOL JSM-7600F ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, mit einer neu entwickelten, thermischen Feldemissionsquelle. Die geringe Energiebreite der emittierten Elektronen ermöglicht eine herausragende Fokussierbarkeit des Elektronenstrahls und damit eine ...
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Messetermine
DMG Jahrestagung
19.-22. September 2010
Münster
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