Das UHV Rastersondenmikroskop JSPM-4500 ist ein für viele Anwendungen einsetzbares, hochauflösendes UHV-SPM. Das System ist wahlweise als JSPM-4500A (UHV AFM/STM) oder als JSPM-4500S (UHV STM) verfügbar. Durch den Betrieb des SPM im Ultrahochvakuum (UHV) können die Oberflächen weitgehend kontaminationsfrei untersucht werden.
Das JSPM-4500 ist entweder als Komplettgerät oder nach den gestellten Anforderungen individuell konzipiert lieferbar.
Das Standard-Komplettsystem hat zwei Probenkammern:
• 1 Kammer für die Probenpräparation und -modifikation
• 1 Kammer für die eigentliche Untersuchung bzw. Abbildung der Probenoberfläche
Das System lässt sich darüber hinaus vielfältig ausbauen. Verfügbar sind unter anderem ein UHV-REM, Auger-Analytik, LEED, RHEED und verschiedene Aufdampf- und Ionenquellen. Optionen für Untersuchungen im Temperaturbereich von < 20 K bis über 1500 K komplettieren das System.
Merkmale
• Komplettgerät inkl. UHV-System
• internes Bake-Out-System
• AFM- und STM-Betrieb (bei JSPM-4500A) möglich
• Fast-scan STM-Betrieb (bei JSPM-4500S) möglich
• atomare Auflösung
• einfache Bedienung mit unterschiedlichen Nutzerlevel
Spezifikationen
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Bildauflösung |
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AFM |
atomar (mica im contact mode) |
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STM |
atomar (HOPG) |
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Scanner |
Tube Scanner (JSPM-4500A) |
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Meßmoden |
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AFM Contact mode |
Topography image, Force image, Friction |
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AFM AC mode |
Topography image, Phase image, Amplitude |
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STM Mode |
Topography image, Current image, |
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Vakuumsystem |
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Druckbereich |
≤ 3 · 10-8 Pa |
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Bake-out |
intern |
Optionen (Auswahl)
• Probenheizung und -kühlung im Bereich 20 K bis 1500 K
• UHV-REM zur Probenbeobachtung
• Ionenquellen
• Aufdampfquellen
• LEED, RHEED, Auger, XPS
• zusätzliche Probenkammern
| Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller. |
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