Das Rastersondenmikroskop JSPM-5200 ist ein für viele Anwendungen einsetzbares, hochauflösendes SPM. Durch einen einfachen Austausch des Messträgers kann das JSPM-5200 entweder als atomic force microscope (AFM) oder als scanning tunneling microscope (STM) konfiguriert werden.
Das System lässt sich darüber hinaus optional zum Environmental-System ausbauen. Damit können dann verschiedene Mess- und Umgebungsbedingungen für die zu untersuchenden Proben gewählt werden. Proben können unter normaler Atmosphäre, unter kontrollierten atmosphärischen Bedingungen oder im Vakuum untersucht werden. Darüber hinaus können die Proben auch bis 773 K geheizt oder auf 130 K gekühlt werden.
Vielfältige Betriebsmodi komplettieren das System. Im STM-Betrieb sind CITS, I-V, S-V, und I-S Messungen möglich. Standard AFM-Betriebsarten sind "non contact", "alternating contact" und "contact mode". Weiterhin verfügbar sind FFM und current image. Eine patentierte drift-freie Probenbühne gewährleistet dabei eine extrem stabile Plattform für die Abbildung.
Merkmale
• Komplettsystem inkl. Schwingungsgedämpftem Tisch und Steuerungs-
sowie Auswertesoftware
• AFM- und STM-Betrieb möglich
• atomare Auflösung
• einfache Bedienung mit unterschiedlichen Nutzerleveln
Spezifikationen
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Bildauflösung |
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AFM |
atomar (mica im contact mode) |
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STM |
atomar (HOPG) |
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System Drift |
< 0.05 nm/s |
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Messmodi |
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AFM contact mode |
Topography image, Force image, Friction |
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AFM alternating contact mode |
Topography image, Phase image, Amplitude |
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STM mode |
Topography image, Current image, |
Optionen (Auswahl)
• diverse Scanner mit unterschiedlichen xyz-Auslenkungen
• Vakuumsysteme
• Niedervakuumsystem für regelbare Gasatmosphären
• Probenheizung und -kühlung
• Fluidzelle (offen und geschlossen)
• CCD-Kamerasysteme
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