Rastersondenmikroskope

Die Rastersondenmikroskope (SPM: Scanning probe Microscopes) wurden in den 1980er-Jahren entwickelt und sind heute ein unentbehrliches Werkzeug für die Direktabbildung von Oberflächen und Oberflächenkräften.
Nach dem Rastertunnelmikroskop (STM) 1981, wurde die Technologie um die Rasterkraftmikroskopie (AFM, contact und non-contact) erweitert. Durch den Einsatz verschiedener Techniken ist es heute möglich, magnetische und elektrische Kräfte, Reibungskräfte, Viskoelastizität usw. zu detektieren.

Das SPM wird heute routinemäßig unter anderem bei der Untersuchung von Halbleiterbauelementen, Dünnschichtproben, archäologischen Artefakten, CDs, Festplatten, magnetischen Speichern, zur Untersuchung elektrischer Eigenschaften von Materialien und auch für biologischen Proben eingesetzt.

JEOL SPM Produkte sind in zwei Geräteserien aufgeteilt
• Atmosphärische (environmental) SPMs
• Ultrahochvakuum (UHV)-SPMs

Modelle:
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JEOL JSPM-4500 UHV Rastersondenmikroskop

Das JSPM-4500 UHV Scanning Probe Microscope wurde für die Modifizierung und hochauflösende Untersuchungen von Oberflächen im UHV konzipiert. Das Standard-Komplettsystem verfügt daher über 2 Probenkammern. Eine Kammer für die Probenpräparation und ...

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JEOL JSPM-4610 UHV Rastersondenmikroskop

Das JSPM-4610 UHV Scanning Probe Microscope wurde für hochauflösende Untersuchungen von Oberflächen im UHV konzipiert. Das UHV Rastersondenmikroskop JSPM-4610 ist ein für viele Anwendungen einsetzbares, hochauflösendes UHV-SPM. Das System ist wahlweise ...

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JEOL JSPM-5200 Rastersondenmikroskop

Das JSPM-5200 Environmental Scanning Probe Microscope ist ein für viele Anwendungen einsetzbares, hochauflösendes SPM. Verschiedene Mess- und Umgebungsbedingungen für die zu untersuchenden Proben können gewählt werden. Das Rastersondenmikroskop ...

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JEOL JSPM-5400 Rastersondenmikroskop

Das JSPM-5400 ist ein neues Environmental Scanning Probe Mikroskop mit sehr hoher Stabilität. Verschiedene Mess- und Umgebungsbedingungen für die zu untersuchenden Proben können gewählt werden. Das Rastersondenmikroskop JSPM-5400 ist ein für viele Anwendungen ...

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