Für ein modernes Raster- oder Transmissionselektronenmikroskop gehört heute ein integriertes Röntgenmikroanalysesystem in vielen Fällen zur Standardausstattung.
Für die Elektronenstrahl-Mikrosonden der JXA-Serie hat JEOL ein eigenes Analysensystem mit voller Integration in das System entwickelt. Dort seit Jahren erfolgreich im Einsatz, kann dieses System jetzt auch für die JEOL Raster- und Transmissionselektronenmikroskope als voll integriertes System angeboten werden.
Die Vorteile liegen dabei klar auf der Hand, das EDX-System ist optimal auf das Mikroskop angepasst und voll in die Bedienung integriert. Dies erlaubt einen nahtlosen Wechsel zwischen analytischen und abbildenden Techniken.
Vielfältige Besonderheiten zeichnen die JEOL EDX-Systeme aus. Die Empfindlichkeit der JEOL Detektoren ist durch die Verwendung eines trägerlosen Fenstersystems in vielen Fällen deutlich höher als bei konventionellen Systemen.
Darüberhinaus erlauben die patentierten JEOL Mini Cup-Detektoren eine Kühlung nur bei Bedarf, verbunden mit einem extrem kontaminationsarmen Detektorsystem.
Die Evakuierung des Mini Cup Dewars erfolgt bei jedem Kühlzyklus über das Vakuumsystem des REM, Eiskontamination des Detektors wird dauerhaft vermieden.
Die hohe Empfindlichkeit der Detektion bleibt über viele Jahre unverändert erhalten.
Modelle
• JED-2300 für JEOL (Niedervakuum-)Rasterelektronenmikroskope
• JED-2300F für JEOL Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope
• JED-2300T für JEOL Transmissions-Elektronenmikroskope
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