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JEOL (Germany) GmbH - Transmissionselektronenmikroskope (JEM-1400)

JEOL JEM-1400 Transmissionselektronenmikroskop

Das JEM-1400 ist ein neu entwickeltes, kompaktes Hochleistungs-TEM mit motorisierter und programmierbarer fünf-Achsen-Probenbühne und Lab6-Kathode. Die maximale Beschleunigungsspannung des Gerätes beträgt 120 kV. Zwei verschiedene Objektiv-Polschuhe stehen für das JEM-1400 zur Auswahl. Ein high-contrast-Polschuh für optimalen Probenkontrast bei sehr guter Helligkeit und Auflösung und ein STEM-Polschuh für den kombinierten TEM-/STEM-Betrieb.

Merkmale
• Benutzerfreundliche Oberfläche mit vielen Automatikfunktionen
• selbsterklärende Benutzerführung für Erstanwender
• funktionsorientierter Expertenmodus
• Mehrfach-User login
• Remote Control über Netzwerk
• vollständig rotationskorrigiertes Linsensystem
• Minimum Dose System

Spezifikationen

 Elektronenoptik

 

 Elektronenquelle

 W- oder LaB6-Emitter (optional)

 Beschleunigungsspannung

 40 bis 120 kV

 Punkt-Auflösung

 0.20 nm

 Linien-Auflösung

 0.38 nm

 Vergrößerungsbereich

 x50 bis x800.000 (HC-Polschuh)
 x50 bis x600.000 (STEM-Polschuh)

 Probenbühne

 

 Typ

 Side-Entry-Goniometer

 Verfahrwege

 X: ±1 mm
 Y: ±1 mm
 Z: ±0.5 mm
 T: ±70°


Optionen (Auswahl)
• LaB6-Kathode
• STEM-System und HAADF-Detektor
• Tomographie-System
• Cryo-Systeme
• CCD-Kamera
• EDX-Systeme

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

 

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19.-22. September 2010

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