JEOL JEM-2100 Transmissionselektronenmikroskop

Das JEOL JEM-2100 ist ein kompaktes Hochleistungs-TEM, das sich ideal für eine Vielzahl an Anwendungen im Bereich Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Biowissenschaften eignet. Fünf verschiedene Polschuhe zur optimalen Anpassung an die geforderte Applikation stehen zur Verfügung.

Die Windows™-basierte Benutzeroberfläche des JEM-2100 ist intuitiv und einfach bedienbar und ermöglicht eine Fernsteuerung durch das optionale SIRIUS™ remote control system.

Das JEM-2100 hat drei unabhängige Kondensorlinsen und erzeugt den höchsten Sondenstrom für jeden gegebenen Strahldurchmesser. Dies garantiert die besten Leistungsdaten in der Analytik und bei der Darstellung von Beugungsdiagrammen. Der patentierte JEOL Alpha Selector™ erlaubt dem Nutzer die einfache Auswahl der Beleuchtungsbedingungen von extrem konvergentem Strahl bis zur parallelen Beleuchtung.

Mit der serienmäßigen Objektiv-Mini-Linse ist Lorentz-Mikroskopie eine Standardbetriebsart. Eine high-contrast-Blende ist für jeden Polschuh einsetzbar und erlaubt kontrastreiche Abbildung bei gleichzeitiger EDS Analyse.

Das JEM-2100 verfügt über eine extrem stabile Goniometerbühne, die speziell für Tomographie mit hohen Kippwinkeln konzipiert wurde. Mit der optionalen JEOL Tomographiesoftware TEMography™ werden automatisch Bildserien erfasst, eine 3D-Rekonstruktion berechnet und mit einer 3D Visualisierungs-Software das so rekonstruierte Objekt dargestellt.

Optional kann die Probenbühne mit x/y-Piezoelementen für eine präzise, driftfreie Bewegungen der Probe bei hohen Vergrößerungen und zur Probendriftkorrektur aus-gestattet werden.

Spezifikationen

Elektronenoptik
Elektronenquelle	W- oder LaB6-Emitter
Beschleunigungsspannung	80 bis 200 kV
Punkt-Auflösung	bis zu 0.19 nm (UHR-Polschuh)
Linien-Auflösung	0.14 nm
Vergrößerungsbereich	x50 bis max. x1.500.000  (abhängig vom Polschuh)
Probenbühne
Typ	Side-Entry-Goniometer
Verfahrwege	X: 2 mm  Y: 2 mm  Z: 0.4 mm (abhängig vom Polschuh)  T: bis zu ±80° (abhängig von Polschuh und  Probenhalter)

Optionen (Auswahl)
• Piezoelemente für die X/Y-Bewegung des Goniometers, für absolut ruckfreie Bewegung
  der Probe bei höchsten Vergrößerungen und effektive Probendriftkompensation
• STEM mit HAADF
• EDX-Systeme
• EELS-System (GATAN GIF)
• CCD-Kameras

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