Das JEOL JEM-2100F ist ein Hochleistungs-TEM mit Feldemissions-Kathode
für Untersuchungen auf atomarem/molekularem Niveau in Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Biowissenschaften. Fünf verschiedene Polschuhe zur optimalen Anpassung an die geforderte Applikation stehen zur Verfügung.
Das JEOL JEM-2100F bietet höchste Bildqualität und höchste analytische Auflösung in der Klasse der 200 kV TEMs. Die Schottky Feldemissionskathode liefert auch bei extrem kleinen Strahldurchmessern bis zu <0,5 nm hohe langzeitstabile Ströme für überlegene Leitungsdaten bei analytischen Fragestellungen.
Das JEM-2100F besitzt eine neue vollständig rotationsfreie Elektronenoptik, mit der die Zuordnung von TEM-Bild und Beugungsbild wesentlich vereinfacht wird.
Der patentierte JEOL Alpha Selector™ erlaubt dem Nutzer die einfache Auswahl der Beleuchtungsbedingungen von extrem konvergentem Strahl bis zur parallelen Beleuchtung.
Die Windows™ -basierende Benutzeroberfläche des JEM-2100F ist intuitiv und einfach bedienbar und ermöglicht eine Fernsteuerung durch das optionale SIRIUS™ remote control system.
Das neu entwickelte side-entry-Goniometer mit 5-Achsen Motorisierung ermöglicht programmierbares Abspeichern und Wiederanfahren von Positionen. Serienmäßig sind Piezoelemente für die X/Y-Bewegung des Goniometers integriert für absolut ruckfreie Bewegung der Probe bei höchsten Vergrößerungen und effektive Probendriftkompensation.
Das extrem stabile Goniometer wurde speziell für Tomographie mit hohen Kippwinkeln konzipiert. Mit der optionalen JEOL Tomographiesoftware TEMography™ werden automatisch Bildserien erfasst, eine 3D-Rekonstruktion berechnet und mit einer 3D Visualisierungs-Software das so rekonstruierte Objekt dargestellt.
Spezifikationen
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Elektronenoptik |
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Elektronenquelle |
Feldemissionsquelle (Schottky) |
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Beschleunigungsspannung |
80 bis 200 kV |
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Punkt-Auflösung |
bis zu 0.19 nm (UHR-Polschuh) |
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Linien-Auflösung |
0.14 nm |
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Vergrößerungsbereich |
x50 bis max. x1.500.000 |
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Probenbühne |
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Typ |
Side-Entry-Goniometer |
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Verfahrwege |
X: 2 mm |
Optionen (Auswahl)
• Piezoelemente für die X/Y-Bewegung des Goniometers, für absolut ruckfreie Bewegung
der Probe bei höchsten Vergrößerungen und effektive Probendriftkompensation
• STEM mit HAADF
• EDX-Systeme
• EELS-System (GATAN GIF)
• CCD-Kameras
| Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller. |
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