Das JEM-2500SE ist ein einfach zu benutzendes Feldemissions-STEM, speziell für Arbeitsumgebungen konzipiert, die höchste Leistung bei hoher Effizienz verlangen.
Die Bedienung des JEM-2500SE ist vergleichbar mit dem Arbeiten an einem Rasterelektronenmikroskop, jedoch wird die hohe Auflösung eines TEMs erreicht.
Das JEOL JEM-2500SE bietet höchste Bildqualität und höchste analytische Auflösung in der Klasse der 200 kV TEMs. Die Schottky-Feldemissions-Kathode liefert auch bei extrem kleinen Strahldurchmessern bis zu <0,5 nm hohe langzeitstabile Ströme für überlegene Leitungsdaten bei analytischen Fragestellungen.
Das Gerät besitzt eine neue vollständig rotationsfreie Elektronenoptik, mit der die Zuordnung von TEM-Bild und Beugungsbild wesentlich vereinfacht wird. Die Windows™ -basierende Benutzeroberfläche ist intuitiv und einfach bedienbar.
Das neu entwickelte side-entry-Goniometer mit 5-Achsen Motorisierung ermöglicht programmierbares Abspeichern und Wiederanfahren von Positionen. Serienmäßig sind Piezoelemente für die X/Y-Bewegung des Goniometers integriert für absolut ruckfreie Bewegung der Probe bei höchsten Vergrößerungen und effektive Probendriftkompensation.
Das extrem stabile Goniometer wurde speziell für Tomographie mit hohen Kippwinkeln konzipiert. Mit der optionalen JEOL Tomographiesoftware TEMography™ werden automatisch Bildserien erfasst, eine 3D-Rekonstruktion berechnet und mit einer 3D Visualisierungs-Software das so rekonstruierte Objekt dargestellt.
Spezifikationen
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Elektronenoptik |
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Elektronenquelle |
Feldemissionsquelle (Schottky) |
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Beschleunigungsspannung |
200 kV |
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Linien-Auflösung |
0.14 nm |
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STEM-Linienauflösung |
0.2 nm |
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Auflösung im SE-Bild |
1.0 nm |
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Vergrößerungsbereich |
x100 bis max. x20.000.000 |
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Probenbühne |
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Typ |
Side-Entry-Goniometer |
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Verfahrwege |
X: 2 mm |
Optionen (Auswahl)
• EDX-Systeme
• EELS-System (GATAN GIF)
• CCD-Kameras
| Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller. |
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