Das JEOL JEM-3200FSC basiert auf dem JEM-3100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter) und einem Flüssig-He gekühlten Side-Entry-Goniometer.
Das extrem stabile Goniometer wurde speziell für Tomographie mit hohen Kippwinkeln bei tiefen Temperaturen konzipiert. Mit der optionalen JEOL Tomographiesoftware TEMography™ werden automatisch Bildserien erfasst, eine 3D-Rekonstruktion berechnet und mit einer 3D Visualisierungs-Software das so rekonstruierte Objekt dargestellt.
Die Windows™-basierte Benutzeroberfläche des JEM-3200FSC ist intuitiv und einfach bedienbar und ermöglicht eine Fernsteuerung durch das optionale SIRIUS™ remote control system.
Spezifikationen
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Elektronenoptik |
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Elektronenquelle |
Feldemissionsquelle (Schottky) |
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Beschleunigungsspannung |
100 bis 300 kV |
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Linien-Auflösung |
0.204 nm (bei < 18K und bei RT) |
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Vergrößerungsbereich |
x100 bis max. x1.200.000 |
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Probenbühne |
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Typ |
Cryotransfer Side-Entry-Goniometer |
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Verfahrwege |
bis zu ±70° |
| Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller. |
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