JEOL entwickelt und produziert seit 1949 state-of-the-art-Transmissionselektronenmikroskope. Das heutige Produktspektrum umfasst Geräte mit Beschleunigungsspannungen von 100 kV bis 1,3 MV für unterschiedlichste Applikationen.
In Materialwissenschaften und Halbleiterforschung ermöglichen JEOL TEMs mit Beschleunigungsspannungen zwischen 200 kV und 1,3 MV die routinemäßige Abbildung von atomaren Strukturen. Mit dem Einsatz energiedispersiver Röntgenanalyse (EDS) und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie (EELS) wird das TEM darüber hinaus zum Analysewerkzeug und kann Elementanalysen aus Bereichen kleiner als 0,5 nm Durchmesser liefern.
Auch in Biologie und Biomedizin werden JEOL Transmissionselektronenmikroskope (TEM) wegen ihrer unerreichten Möglichkeiten zur Abbildung feinster Zell- und Virenstrukturen verwendet. In der Pathologie sind JEOL TEMs ein unentbehrliches Werkzeug für die Diagnose.
Durch den Einsatz modernster Entwicklungen werden heute JEOL TEMs für alle denkbaren Anwendungen optimiert:
Energiegefilterte Abbildung
JEOL TEMs mit integriertem Energiefilter bieten kontrastreiche Abbildungen auch sehr dicker Proben und Darstellung von Elementverteilungen im live-Bild.
Untersuchung empfindlichster Proben
Flüssig-N2 und flüssig-He gekühlte Probenhalter und -goniometer erlauben Untersuchungen von extrem empfindlichen Proben.
Tomographie
Alle JEOL TEMs mit Tomographie-Probenhaltern und mit der JEOL-Tomographie-Software ermöglichen die Rekonstruktion dreidimensionaler Probenstrukturen. Die piezo-gesteuerten JEOL Probengoniometer sind für die präzise Berechnung der 3-dimensionalen Strukturen eine unabdingbare Voraussetzung
Korrektoren für die Linsenfehler von Kondensorlinse und Objektiv
Mit den Einsatz von Korrektoren im TEM- und STEM-Modus wird das Auflösungsvermögen bis an die theoretisch möglichen Grenzen verbessert.
Modelle
• TEMs mit 100 und 120 kV Beschleunigungsspannung
• TEMs und FEG-TEMs mit 200 kV Beschleunigungsspannung
• TEMs und FEG-TEMs mit 300 kV Beschleunigungsspannung
• MeV TEMs
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