20.03.2026

Auf der analytica präsentiert JEOL aktuelle Entwicklungen in der Elektronenmikroskopie und lädt Besucher zu Live Demos am JSM IT210 ein.
JEOL wird auch in diesem Jahr wieder auf der analytica vertreten sein und lädt Besucher herzlich ein, sich vor Ort über aktuelle Entwicklungen in der Elektronenmikroskopie zu informieren. Am Stand präsentieren wir unter anderem das Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM-IT210, an welchem Kunden und Interessenten herzlich zu einer Live-Demo eingeladen werden.
Besucher haben die Möglichkeit, eigene Proben mitzubringen und direkt vor Ort analysieren zu lassen. Unsere Applikationsspezialisten zeigen dabei praxisnah, wie moderne REM-Technologie schnelle und zuverlässige Ergebnisse liefert. Darüber hinaus freuen wir uns auch über den Besuch internationaler Vertriebspartner und potenzieller neuer Distributoren, die sich auf der Messe ein Bild von unserem aktuellen Portfolio machen möchten. Für fachliche Gespräche stehen neben unserem lokalen Vertriebs-Team auch Experten aus Applikation und Produktmanagement sowie Kollegen aus dem japanischen JEOL-Headquarter zur Verfügung.
Gern stellen wir Ihnen auf Anfrage auch Gasttickets für die analytica zur Verfügung. Wir freuen uns darauf, Sie auf der Messe persönlich zu begrüßen.