Elektronenstrahlmikrosonden

JEOL JXA-iHP200F

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JEOL JXA-iHP200F

Die neueste Generation der marktführenden Elektronenstrahlmikrosonden von JEOL überzeugt nicht nur durch seine verbesserten analytischen Fähigkeiten, sondern gestaltet auch den Einstieg in die Welt der quantitativen Mikroanalytik so einfach wie noch nie. Die neue, nutzerfreundliche Softwareoberfläche ermöglicht eine sehr komfortable und intuitive Bedienung wie die eines Rasterelektronenmikroskopes. Dabei kommen nicht nur Einsteiger auf ihre Kosten, die durch die neue „Easy EPMA“-Funktion unterstützt werden - angefangen bei optimierten Auto-Funktionen für die Bildeinstellung, über voll-integriertes Live-EDS bis hin zur automatischen Spektrometer- und Kristall-Auswahl. Auch erfahrene Mikrosonden-Anwender können durch den flexiblen Softwareaufbau und zahlreiche Individualisierungsmöglichkeiten das volle Potential des Analysesystems ausschöpfen. Darüber hinaus wurden erneut die Auflösung und Stabilität des elektronenoptischen Systems, sowie der bildgebenden Detektoren verbessert.

Merkmale

  1. Patentierte In-lens Schottky FEG
    Die patentierte, extrem langlebige In-Lens Schottky Plus FEG bietet eine optimierte Strahlstromdichte, welche die Analyse mit variabel und kontinuierlich einstellbaren Sondenströmen von 1 nA bis zu 3 μA ermöglicht. Daneben wird in der Sekundärelektronenabbildung eine sehr hohe Auflösung von 2,5 nm ermöglicht.

  2. Neue Software-Oberfläche
    • Effizientere Auto-Algorithmen für die Einstellung Fokus, Astigmatismus und Kontrast/Helligkeit
    • Kontextbasierte und frei positionierbare Funktionsfenster
    • „Easy EPMA“ mit EDS-basierter Auswahl der WDS-Kristalle und Strahlparameter
    • Logging-Funktion für schnellen Statusüberblick und einfache Service-Planbarkeit
    • Windows10-Plattform

  3. Variable Konfiguration der WDS-Spektrometer
    Verschiedene WDS-Röntgenspektrometer erlauben den modularen Aufbau des Systems zur individuellen Anpassung an nutzerspezifische Fragestellungen:
    • 2- bzw. 4-Kristallspektrometer
    • Spektrometer für hohe Zählraten bei hoher spektraler Auflösung
    • Spektrometer für höchste Zählraten, etwa bei Spurenelementanalytik
    Für alle Spektrometertypen steht eine große Auswahl an verschiedenen Analysekristallen stehen zur Verfügung.

  4. Kombiniertes WDS/EDS-System
    Die JEOL Mikrosonde JXA-iHP200F ist mit einem 30-mm²-Silizium-Drift-Detektor (SDD) EDS-System ausgestattet, der in voller Funktionalität in die Mikroskop-Softwareoberfläche eingebunden ist, bspw. mit Live-EDS-Spektren, Live-Mapping, etc. Das JEOL-EDS System ist durch eine variable Blende speziell auf die Auswertung von hohen Zählraten ausgelegt und ermöglicht EDS-Analysen unter WDS-Bedingungen. Zudem können die EDS- und WDS-Daten kombiniert werden. Intelligente Software erlaubt es darüber hinaus, gemessene EDS-Spektren zur automatischen Auswahl der WDS-Kristalle zu verwenden.

  5. Automatische Schleuse und vielseitige Probenkammer
    Die Mikrosonde ist mit einer großen Probenkammer und automatischen Probenschleuse ausgestattet. Dadurch können Proben sicher und schnell ein- und ausgebaut werden und eine Vielzahl von optionalen Erweiterungen integriert werden.

    Folgende Optionen sind u.a. erhältlich:
    • Electron Backscatter Diffraction System (EBSD)
    • Kathodolumineszenz-Detektoren (panchromatisch, monochromatisch, hyperspektral)
    • Soft X-ray Emission Spectrometer
    • Inert-Transfer-Behälter
    • Plasma- oder Ionenquelle für hohen Abtrag

  6. Soft X-ray Emission Spectrometer (SXES)
    Das höchstauflösende System erlaubt die parallele Detektion von Röntgenspektren mit sehr hoher Energieauflösung und ermöglicht neben der Detektion von Li-K- und B-K-Spektren auch die Analyse von Bindungszuständen.

  7. miXcroscopy (Korrelative Mikroskopie)
    Interessante Probenstellen lassen sich oftmals mit einem Lichtmikroskop einfacher erkennen. Das miXcroscopy-Verfahren ermöglicht hierbei einen Datentransfer aus dem Lichtmikroskop direkt an die Mikrosonde. Somit können Probenbereiche schnell mit hoher Präzision wiedergefunden und analysiert werden.

Spezifikationen

Elektronenoptik


Elektronenquelle

Schottky-Feldemission

Beschleunigungs­spannung

1 bis 30 kV

Probenstrom

1 pA bis 3 µA

Strahlstrom­stabilität

±0,3% / h; ± 1,0% / 12 h

Auflösung im SE-Bild

2,5 nm

Vergrößerung

x40 bis x300.000

Analysesystem


Zahl der Spektrometer

1 bis 5

Detektierbarer Elementbereich

5B bis 92U (optional: Be bis U)

Wellenlängen­bereich

0,087 bis 9,3 nm

EDS-System

Serienmäßig, vollständig hard- und software-integriert

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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