Die aktuelle Generation der marktführenden Elektronenstrahlmikrosonden von JEOL überzeugt nicht nur durch seine verbesserten analytischen Fähigkeiten, sondern gestaltet auch den Einstieg in die Welt der quantitativen Mikroanalytik so einfach wie noch nie. Die neue, nutzerfreundliche Softwareoberfläche ermöglicht eine sehr komfortable und intuitive Bedienung wie die eines Rasterelektronenmikroskopes. Dabei kommen nicht nur Einsteiger auf ihre Kosten, die durch die neue „Easy EPMA“-Funktion unterstützt werden - angefangen bei optimierten Auto-Funktionen für die Bildeinstellung, über voll-integriertes Live-EDS bis hin zur automatischen Spektrometer- und Kristall-Auswahl. Auch erfahrene Mikrosonden-Anwender können durch den flexiblen Softwareaufbau und zahlreiche Individualisierungsmöglichkeiten das volle Potential des Analysesystems ausschöpfen. Darüber hinaus wurden erneut die Auflösung und Stabilität des elektronenoptischen Systems sowie der bildgebenden Detektoren verbessert.
Elektronenoptik | |
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Elektronenquelle | Schottky-Feldemission |
Beschleunigungsspannung | 1 bis 30 kV |
Probenstrom |
1 pA bis 3 µA |
Strahlstromstabilität |
±0,3% / h; ± 1,0% / 12 h |
Auflösung im SE-Bild |
2,5 nm |
Vergrößerung |
x40 bis x300.000 |
Analysesystem | |
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Zahl der Spektrometer |
1 bis 5 |
Detektierbarer Elementbereich | 5B bis 92U (optional: Be bis U) |
Wellenlängenbereich |
0,087 bis 9,3 nm |
EDS-System |
Serienmäßig, vollständig hard- und software-integriert |
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