JIB-PS500i FIB-System

Das von Grund auf neu designte Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (FIB) ermöglicht in noch nie dagewesener Einfachheit die Herstellung, höchstauflösende Abbildung und Analyse dünner TEM-Lamellen und Querschnitte. Grundlage bildet eine große, leicht zugängliche Probenkammer, die den Einbau sehr großer Proben erlaubt und gleichermaßen das Kippen von Proben auf über 90° ermöglicht. So können TEM-Proben einfach präpariert und direkt im STEM-Betrieb abgebildet und analysiert werden. Zu diesem Zweck wurden sowohl die Objektivlinse als auch die Detektoren für höchste Auflösung weiterentwickelt. Darüber hinaus wurden die JEOL-EDX-Detektoren in die neue, von JEOL-Rasterelektronenmikroskopen bekannte Nutzeroberfläche integriert, um möglichst effiziente und einfache Arbeitsabläufe zu ermöglichen. Auch die neue STEMPLING2-Lamellenpräparation zielt auf hohen Durchsatz und einfaches Handling ab: Zusammen mit dem vollintegrierten OmniProbe-Werkzeug (Oxford Instruments) können so automatisch zahlreiche Lamellen in Serie produziert werden.

Für schnelle Arbeitabläufe stehen zudem eine Gallium-Quelle mit hohem Probenstrom (bis 100nA) für maximale Abtragsraten und die bewährte In-Lens-Schottky-FEG (bis 500nA) für großflächige, schnelle Elementanalysen zur Verfügung.

Auch in puncto Bedienbarkeit setzt das FIB-System neue Maßstäbe. Die AVERT-Engine bietet Anwendern jederzeit ein 3D-Modell des Innenlebens der Kammer – dies ermöglicht maximalen Überblick und Sicherheit beim Arbeiten. Besitzer eines JEOL TEMs profitieren darüber hinaus vom neuen „TEM-Linkage“-System: Ein Doppel-Kipp-Steckaufsatz kann sowohl auf einen FIB-REM-Halter als auch auf einen TEM-Halter aufgesteckt werden. So können Lamellen nicht nur in beiden Mikroskopen in Transmission untersucht werden, sondern können auch zwischen den Systemen transferiert werden, ohne das TEM-Grid berühren zu müssen.