JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

In 2003 stellte JEOL den ersten Cross-Section-Polisher (CP), ein Präparationswerkzeug zur Herstellung von hochpräzisen Querschliffen, vor. Das einfache, schnelle und reproduzierbare Herstellen von Querschliffen komplexester Materialkombinationen machten den CP schnell zu dem Standardinstrument im Bereich der ionenbasierten Probenpräparationsverfahren.

Mit der aktuellen Version des Cross Section Polishers IB-19530CP knüpft JEOL an diese erfolgreiche Tradition an und setzt erneut den Standard.

Durch eine verbesserte Ionenquelle können Querschliffen noch schonender und artefaktfreier hergestellt werden, was dem CP, insbesondere für empfindliche Proben, erhebliche Vorteile gegenüber anderen Präparationsverfahren verschafft. Ein optimiertes Blendendesign reduziert die Präparationskosten um bis zu 50% bei gleichzeitiger Verlängerung der Lebensdauer. Zur Verbesserung der Bedienbarkeit und Erweiterung des Funktionsumfangs wurde das Halterkonzept sowie die Probenbühne vollständig überarbeitet. Während der Einbau von Proben deutlich vereinfacht wurde, ermöglicht die neue Multifunktionsbühne nun sowohl das Erstellen von traditionellen Querschliffen als auch das Verfeinern der Oberflächengüte von eingebetteten Proben für höchst-auflösende Untersuchungen im Rasterelektronenmikroskop sowie für analytische Anwendungen wie EDX, WDX und EBSD. Darüber hinaus ermöglicht der IB-19530CP eine kontrollierte Tiefenprofilierung sowie das direkte Beschichten von nichtleitenden Proben.