Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronen­mikroskop

Produkt
Merkmale
Spezifikationen
Bilder
Info

JEOL JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronen­mikroskop

Das neue JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop kombiniert absolute Höchstauflösung im elektronenmikroskopischen Bild mit einzigartigen Analysemöglichkeiten. Durch eine Vielzahl von Automatik- und Hilfe-Funktionen sowie einem ultra-schnellen Probentransfer erlaubt das neue JSM-7900F einen noch nie da gewesenen Probendurchsatz. Dabei eignet sich das Instrument für alle erdenklichen Anwendungen, wie metallische oder magnetische Materialien, Halbleiter, keramische Werkstoffe, medizinische und auch biologischen Proben. Ein Highlight dieses erstklassigen Mikroskops ist das neue elektronenoptische System (NeoEngine). So verbessert es beispielsweise automatisch das Alignment des Mikroskops und den Strahldurchmesser bei unterschiedlichen Systemparametern. Darüber hinaus führt das leistungsstarke Navigationssystem „Smile Navi“ den Anwender durch den kompletten Datenerfassungsprozess. Die zusätzliche Online-Anleitung bietet umfassende Unterstützung und führt selbst Anwender mit geringen Vor-Kenntnissen auf einfache Art bis zum perfekten Ergebnis.

Merkmale

  • Hochauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer Hybrid-Objektivlinse.
  • Probenstrom ≥500nA für ultra-schnelle Analytik.
  • In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und Kondenserlinsen mit geringer Aberration bieten höchste Stabilität und maximalen Strom auch bei niedriger Beschleunigungsspannung
  • GBSH-S (GENTLEBEAM™ Super High mode) ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei extrem niedrigen Beschleunigungsspannungen (bis zu 10V).
  • Neuer hochempfindlicher BE-Detektor mit außergewöhnlicher Leistung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen.
  • In-Lens-Detektoren für Abbildung bei niedrigsten Anregungsspannungen.
  • Durch die neu konzipierte Probenschleuse können Proben schnell und sicher gewechselt werden.

Spezifikationen

Auflösung

0.6 nm (15 kV), 0.7 nm (1.0 kV), 1.0 nm (0.5 kV)
3.0 nm (5 kV, Probenstrom 5 nA, WD 10 mm)

Vergrößerung

×25 to ×1,000,000

Elektron­enquelle

In-lens Schottky Plus - Feldemissionsquelle

Beschleunigungs­­spannung

0.01 kV bis 30 kV

Probenstrom

wenige pA bis 500 nA

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
Übermitteln Sie uns Ihre Anliegen mit dem nachfolgend aufgeführten Kontaktformular (* = Pflichtfeld).

Kontaktart(en) wählen*

Ihre Kontaktdaten*



Neuigkeiten von JEOL


Ihre Nachricht an JEOL

Weitergabe Ihrer Nutzerdaten an Dritte

Diese Seite verwendet Dienste, die personenbezogene Daten erheben, damit Funktionen für soziale Medien angeboten und Webseitenzugriffe analysiert werden können. Es handelt sich um Google Maps (zur Anzeige unseres Standorts) und Google Analytics (zur lokalen Webseitenanalyse). Diese Dienste führen die Daten ggf. mit weiteren Daten zusammen. Weitere Informationen zu den von uns verwendeten Diensten und zum Widerruf finden Sie in unseren Datenschutzbestimmungen.
Ihre Einwilligung dazu ist freiwillig, für die Nutzung der Webseite nicht notwendig und kann jederzeit mit Wirkung für die Zukunft widerrufen werden.
Sie können die Erhebung und Verarbeitung der folgenden, von dieser Webseite genutzten Dienste ablehnen oder sie akzeptieren.

Die Hinweise zum Datenschutz habe ich gelesen und verstanden. Ich bin mit der Übertragung und Speicherung meiner Daten im Rahmen der Datenschutzerklärung einverstanden. Ich weiß, ich habe das Recht, diese Einwilligung jederzeit ohne Angabe von Gründen zu widerrufen ohne dass die Rechtmäßigkeit, der aufgrund meiner Einwilligung bis zum Widerruf erfolgten Verarbeitung davon berührt wird.