Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-F100 Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

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JEOL JSM-F100 Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-F100 vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung mit intuitivem Handling. Dank der neuen graphischen Benutzeroberfläche war es noch nie so einfach, lichtoptische Aufnahmen, REM-Abbildungen und die Elementcharakterisierung mittels EDX in einem einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank seines hohen Probenstromes zugleich für sämtliche analytischen Fragestellungen.
 
Das FEG-REM JSM-F100 deckt einen breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht dabei den einfachen Einstieg in die Welt der Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.

Merkmale

  • Hochauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer Hybrid-Objektivlinse.
  • Probenstrom ≥ 300 nA für extrem schnelle Analytik.
  • In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und Doppel-Kondensorlinsen-System bieten höchste Stabilität und maximalen Strom auch bei niedriger Beschleunigungsspannung.
  • Die neue NeoEngine und verbesserte Autofunktionen ermöglichen schnelle Übergänge zwischen unterschiedlichen Betriebszuständen.
  • JEOL ZeroMag-Funktion für stufenlosen Übergang zwischen licht- und elektronenoptischer Abbildung für einfachste Probennavigation.
  • Neue Algorithmen auf Basis künstlicher Intelligenz erlauben die rauscharme Abbildung selbst beim schnellen Navigieren auf der Probe.
  • Einzigartige Linsenoptik für extreme Tiefenschärfe und verzerrungsfreie Abbildung großer Probenstukturen.
  • Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten.
  • Für die Untersuchung nichtleitender Materialien steht ein flexibles Niedervakuumsystem auf Knopfdruck zur Verfügung.
  • Durch die optionale Probenschleuse können Proben schnell und sicher gewechselt werden.
  • Das JSM-F100 kann mit zahlreichen Analysesystemen ausgestattet werden, darunter EDX, WDX, CL und weitere Detektoren.
  • Das neue JEOL-Leichtelementspektrometer SXES kann leichte Elemente ab Lithium selbst in niedrigsten Konzentrationen nachweisen und ist gleichermaßen für die hochaufgelöste Analyse chemischer Bindungszustände geeignet.

Spezifikationen

Auflösung

0,9 nm (Beschleunigungsspannung 20 kV)
1,3 nm (Beschleunigungsspannung 1 kV, Gegenfeld)

Vergrößerung

×10 bis 1.000.000 (Referenz: Polaroid)

Beschleunigungsspannung

0,01 bis 30 kV

Probenstrom

wenige pA bis ≥ 300 nA

Elektronenquelle

In-lens Schottky-Feldemissionsquelle

Probenbühne

Vollmotorisierte, euzentrische Probenbühne

Probenschleuse

Große Schleuse mit patentiertem One-Action-System verfügbar

Detektorsystem

In-Lens-Detektor mit integriertem Filter, Everhart-Thornley-Detektor, opt. rückziehbarer Rückstreuelektronen-Detektor, STEM-Detektor und weitere

Optionen

Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX)
Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS)
Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD)
Kathodolumineszenz (KL)
Weiche Röntgenemissions-Spektrometer (SXES)

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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