Das JSM-IT300HR ist die neueste Innovation in der beliebten und preisgekrönten JEOL InTouchScope Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Durch die Implementierung einer neuen Hochleistungs-Emissions-Elektronenquelle sowie eines vollintegrierten JEOL eigenen EDS-Systems übertrifft das JSM-IT300HR innerhalb seines Segments alle auf dem Markt bekannten Werte im Bereich der Bildgebung und Analytik.
Das neue JSM-IT300HR wurde speziell für den Einsatz in einer Multi-User-Umgebungen konzipiert und kombiniert höchste Performance mit herausragender Benutzerfreundlichkeit.
Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit JEOL patentierter "High Brightness" Feldemissionselektronenquelle (FEG)
* Optional
Voll integrierter JEOL EDS-Detektor.
Beschleunigungsspannung | 0,5 kV - 30 kV |
Auflösung (HV) | 1,5 nm (30kV), 4,0 nm (1kV) |
Auflösung (LV) | 1,8 nm (15kV, BED) |
Niedervakuum | Bis 150Pa |
Vergrößerungsbereich | 5x to 600.000x |
Große Probenkammer | 340mm Durchmesser |
Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.