JEOL JSM-IT700HR InTouchScope™
JEOL JSM-IT700HR InTouchScope™
Steigende
Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der
erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT700HR
entwickelt.
Die neue
High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste
Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher
Auflösung.
Mit dem JEOL eigenen
integrierten EDX-System ist erstmals echte Live-Elementaranalyse möglich.
Merkmale
Das neue JSM-IT700HR ergänzt die beliebten JEOL InTouchScope™ REMs von JEOL.
Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung.
- Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je.
- Live EDX ermöglicht erstmal Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme
- Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten.
- Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme.
- Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.
- Große Probenbühne für Proben aller Art kompakte Bauweise mit kleiner Stellfläche.
Optionen
- Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED)
- Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX)
- Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS)
- Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD)
- Probenschleuse
- Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS)
- Live-Kamera
- Bedienpult
- 3D-Software
Spezifikationen
Auflösung (HV) |
1,0 nm (20 kV); 3,0 nm (1,0 kV) |
Auflösung (Analytik) |
3,0nm (15 kV, Probenstrom 3 nA) |
Auflösung (LV) |
1,8 nm (15 kV BED) |
Vergrößerung |
x 5 bis x 600,000 |
Elektronenquelle |
High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle |
Beschleunigungsspannung |
0.5 kV bis 30kV |
Probenstrom | wenige pA bis 300 nA |
Niedervakuum-Druckbereich | 10 bis 150Pa |
Automatikfunktionen | Filament-Justage, Strahl-Ausrichtung, |
Maximale
Probengröße | 200 mm Durchmesser, 75 mm Höhe |
Bühnen-Spezifikationen
| X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 80 mm |
Bildmodi | Sekundärelektronenabbildung, gefilterte Abbildung, Rückstreu-Abbildung (Komposition/Topographie), Stereomikroskopische Abbildung, etc. |
Bitte beachten Sie:
Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.