JEOL JSM-IT710HR InTouchScope™
JEOL JSM-IT710HR InTouchScope™
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt.
Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher Auflösung.
Das moderne REM setzt durch seine intuitive Nutzeroberfläche und das vollständig integrierte JEOL-EDX-System neue Maßstäbe in puncto Bedienbarkeit in der Feldemitter-Klasse. Das JSM-IT710HR vereint mühelos Höchstauflösung und Nutzerkomfort wie bei einem Table-Top-REM. Zur einfachen Bedienung und Orientierung tragen nicht nur der stufenlose Übergang zwischen licht-optischem und REM-Bild durch einfaches Zoomen bei. Als erstes FEG-REM ermöglicht es Nutzern 3D-Abbildungen der Probenoberfläche mit überlagerten chemischen Informationen in Echtzeit darzustellen.
Merkmale
Das neue JSM-IT700HR ergänzt die beliebten JEOL InTouchScope™ REMs von JEOL.
Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung.
- Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik
- "Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je.
- Live EDX ermöglicht Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme – als Spektrum oder als Mapping
- Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten.
- Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme.
- Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.
- Große Probenbühne für Proben aller Art
- Kompakte Bauweise mit kleiner Stellfläche.
Spezifikationen
Auflösung (HV) |
1,0 nm (20 kV); 3,0 nm (1,0 kV) |
Auflösung (Analytik) |
3,0nm (15 kV, Probenstrom 3 nA) |
Auflösung (LV) |
1,8 nm (15 kV BED) |
Vergrößerung |
x 5 bis x 600,000 |
Elektronenquelle |
High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle |
Beschleunigungsspannung |
0.5 kV bis 30kV |
Probenstrom | wenige pA bis 300 nA |
Niedervakuum-Druckbereich | 10 bis 150Pa |
Automatikfunktionen | Filament-Justage, Strahl-Ausrichtung, |
Maximale
Probengröße | 200 mm Durchmesser, 75 mm Höhe |
Bühnen-Spezifikationen
| X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 80 mm |
Bildmodi | Sekundärelektronenabbildung, gefilterte Abbildung, Rückstreu-Abbildung (Komposition/Topographie), Stereomikroskopische Abbildung, etc. |
Bitte beachten Sie:
Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.