Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop

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JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop

Noch nie war der Einstieg in die Welt der Elektronenmikroskopie so einfach: Das Desktop-REM JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. Es vereint in einzigartiger Weise REM-Abbildungen, rekonstruierte 3D-Oberflächen sowie EDX-Elementanalysen in Echtzeit in einer intuitiven Nutzeroberfläche. Eine große Probenkammer, hohe Auflösung und ein zuschaltbarer Niedervakuummodus für nichtleitende Proben machen das Desktop-REM zu einem mobilen Allround-Talent.

Merkmale

  • „Live 3D“: REM-Bild und rekonstruiertes 3D-Oberflächenbild in Echtzeit. Diese neue Funktion ermöglicht es, topografische Informationen und Tiefeninformationen von Proben zusammen mit REM-Bildinformationen der Probenoberflächen zu erfassen.
  • Vollwertige Elektronenoptik: Vergrößerung bis x100.000 und einfacher Kathodenaustausch durch vorzentrierte Wolfram-Filamente.
  • Die automatische Einstellung der Betriebsparameter basierend auf Probentyp und Fragestellung bietet hochwertige Ergebnisse und verbessert die Produktivität.
  • JEOL ZeroMag-Funktion: Stufenloser Übergang zwischen licht- und elektronenoptischer Abbildung für einfachste Probennavigation.
  • Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten.
  • Voll-automatisierte Aufnahmen von REM-Abbildungen und Elementverteilungsbildern für hochaufgelöste Übersichtsmontagen.
  • Für die Untersuchung nichtleitender Materialien steht ein auf Knopfdruck zuschaltbares Niedervakuumsystem zur Verfügung.
  • Große Kammer für Proben bis 80 mm Durchmesser und 50 mm Höhe.
  • Einfache Installation – Eine Steckdose reicht für den Betrieb vollkommen aus!
  • Kompakte Bauform für den mobilen REM-Einsatz.

Spezifikationen

Vergrößerung

x10 bis x100,000 (Referenz: Polaroid)

Abbildung

Sekundärelektronen-Detektor (SE) und Rückstreuelektronen-Detektor (BSE) im Hockvakuumbetrieb, Rückstreuelektronen-Detektor (BSE) im Niedervakuumbetrieb

Beschleu­nigungs­spannung

5 kV / 10 kV / 15 kV

Emitter

Wolfram-Quelle (vorzentrierte Filamente)

Proben­bühne

2-Achsen-Bühne (motorisiert)
Verfahrwege: X: 40 mm, Y: 40 mm

Proben­größe

Maximaler Probendurchmesser: 80 mm
Maximale Probenhöhe: 50 mm

Bedienung

Tastatur, Maus

Optionen

  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS)
  • Motorisierter Kipp-/Rotationshalter
  • Farb-Navigationskamera (SNS)
  • Vollautomatische Partikelanalyse-Software

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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