Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-IT200 InTouchScope™

Produkt
Merkmale
Spezifikationen
Bilder
Info

JEOL JSM-IT200 InTouchScope™

Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs.

Das JEOL JSM-IT200 ist die neueste Entwicklung in der bewährten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Das IT200 setzt die seit 50 Jahren bestehende technologische Führungsrolle von JEOL auf dem REM-Markt fort und stellt dabei ein einfach zu bedienendes und vielseitig einsetzbares REM in ergonomischer Kompaktausführung dar.

Mit seinen erweiterten EDS-Analysefunktionen ist das InTouchScope ein vielseitig einsetzbares „Arbeitspferd“, das individuelle Laboranforderungen zu einem außergewöhnlichen Preis-Leistungs-Verhältnis erfüllt. Es verfügt über höchste Bildauflösung und kontinuierlich einstellbare Beschleunigungsspannungen sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuum-Modus.

Durch die intuitive Bedienung des JSM-IT200 lassen sich Arbeitsabläufe einfach optimieren. Die Steuerung kann über Maus und Tastatur oder auf Wunsch auch mittels Bedienpanel oder Touchscreen erfolgen. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen zu einfachen Aufgaben.

Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT200 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte JEOL EDS-System mit live Analyse umfasst u.a. spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans und Filterfunktionen für Elementverteilungsbilder.

Ebenfalls zur beliebten InTouchScope-Baureihe von JEOL gehört das JSM-IT500 mit großer Probenkammer. Dieses ist entweder mit Wolfram-, LaB6 oder High-Brightness-Kathode verfügbar.

Merkmale

Das InTouchScope zeichnet sich durch alle Funktionen eines voll ausgestatteten Rasterelektronenmikroskops mit Wolframkathode und integrierter EDS-Analyse in kompaktem, ergonomischem und intuitivem Design aus. Die Installation ist denkbar einfach, da weder Kühlwasser- noch Gasanschluss nötig sind.

Praktische Funktionen für Benutzer aller Erfahrungs-Levels:

  • Höchste Bildauflösung im HV/LV/SE/BSE-Modus
  • Zeromag-Modus für den intuitiven Übergang zwischen lichtoptischem und REM-Bild
  • Chemische Analytik durch integriertes EDS mit live-Analyse
  • Multi-Touch Benutzeroberfläche und Remote Control
  • Zahlreiche Automatik-Funktionen und vorgefertigte Rezepte für unterschiedliche Probentypen
  • Mehrkanal-Live-Bild und Videoaufnahme gleichzeitig möglich
  • Schnelle Probennavigation bei 5x – 300.000x Vergrößerung
  • Smile View Premium Offline-Software mit Bildschärfung, Bildmontage, Positionsausrichtung und Überlagerung
  • Kompakte Stellfläche: ca. 0,5m²

Spezifikationen

Auflösung

Hochvakuum-Modus: 3 nm (30 kV)*, 4 nm (20 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
Niedervakuum-Modus: 4 nm (30 kV)*, 5 nm (20 kV) BSE

Beschleu­nigungs­spannung

0,5 -30 kV

Vergrößerung

x5 bis x300.000 (Polaroid-Referenz)

LV-Detektoren

Multi-Segment BSE-Detektor
LV-SE-Detektor (optional)

LV-Druck

10 ∼ 100 Pa

Maximale Proben­größe

Durchmesser:152 mm (125 mm abfahrbar)
Höhe:50 mm

Objekttisch

Euzentrisches Goniometer, X/Y-Achse serienmäßig motorisiert
X=80 mm (motorisiert), Y=40 mm (motorisiert), Z=5 mm–48 mm
R=360° (endlos)
Kippung -10/+90°
(optional 3- oder 5-Achsen Motorisierung)

Bildspeicher

bis zu 5120×3840 Pixel

EDS

integriertes JEOL EDS in den Modellen IT200A und IT200LA mit live Analyse, Aufnahme und Anzeige von Spektren, qualitative/quantitative Analyse, Montagefunktion, spektrales Mapping, automatische Driftkompensation

BSE

Standard in den Modellen IT200LV und IT200LA

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
Übermitteln Sie uns Ihre Anliegen mit dem nachfolgend aufgeführten Kontaktformular (* = Pflichtfeld).

Kontaktart(en) wählen*

Ihre Kontaktdaten*



Neuigkeiten von JEOL


Ihre Nachricht an JEOL

Diese Webseite verwendet Cookies. Durch die Nutzung der Webseite stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu. Datenschutzinformationen