JEOL JSM-IT510 InTouchScope™
JEOL JSM-IT500 InTouchScope™
Das JSM-IT500 ist die jüngste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe.
Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung.
Merkmale
- Integriertes REM- und EDX-System
Die Integration des REM- und EDX-Systems ermöglicht ein nahtloses Zusammenspiel zwischen Abbildungs- und Analysefunktionen. - Neue "Zeromag"-Funktion
Die neuen JEOL “Zeromag”-Funktion vereinfacht die Proben-Navigation signifikant. Es kann in erstmals in einem REM-System stufenlos zwischen licht-optischem Bild und REM-Abbildung gezoomt und dabei eine beliebige Anzahl an zu untersuchenden Bildbereichen ausgewählt werden. - Neue LiveEDS-Funktion
Bereits bei der REM-Abbildung zieht das voll-integrierte EDX-Spektrometer von JEOL permanent EDX-Spektren ein und zeigt in Echtzeit die in der Probe enthaltenen Elemente an. - "SMILE VIEW™ Lab" für die integrierte Verwaltung der Bild- und Analysedaten
Alle gesammelten Bilder, Analyse-Daten und Bildeinstellungen werden für eine schnelle Berichterstattung gesammelt und können individuell angepasst exportiert werden. - Navigation beim Probentausch
Einfache und effiziente Bedienungsunterstützung vom Probeneinbau bis hin zur Bildaufnahme.
Spezifikationen
Auflösung (HV) | 3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
Auflösung (LV) | 4.0 nm (30 kV BED) |
Vergrößerung | x 5 bis x 300,000 |
Elektronenstrahl | W-Filament, Vollautomatische Strahl-Ausrichtung |
Beschleunigungsspannung | 0.3 kV bis 30kV |
Sondenstrom | 1 pA bis 1 μA |
Niedervakuum-Druckeinstellung | 10 bis 650Pa |
Automatikfunktionen | Filament-Justage, Strahl-Ausrichtung, |
Maximale Probengröße | 200 mm Durchmesser, 90 mm Höhe |
Bühnen-Spezifikationen | X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 80 mm |
Bildmodi | Sekundärelektronenabbildung, gefilterte Abbildung, |
EDS Funktionen | Spektrum, Qualitative & Quantitative Analyse, Linienanalyse, Elementverteilungsbilder, Driftkorrektur, etc. |
Optionen
- Rückstreuelektronen-Detektor (BED)
- Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED)
- Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX)
- Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS)
- Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD)
- Probenschleuse
- Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS)
- Live-Kamera
- Bedienpult
- 3D-Messsoftware
Bitte beachten Sie:
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