JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

Das SXES ist ein leistungsstarkes Spektrometer mit hoher Energieauflösung zur Analyse leichter Elemente. Es ist als Teil eines integrierten Analysesystems zur Verwendung mit der Mikrosonde oder zur Nutzung als eigenständiger Detektor vorgesehen. Das SXES ermöglicht Analysen im Niederspannungsbereich bei <1 kV, spektrales Mapping mit hoher Energieauflösung, schnelle Paralleldetektion und Analysen chemischer Zustände.

• Spektrales Mapping mit hoher Energieauflösung
  Mit dem SXES kann die Li-K-Emission erstmals direkt beobachtet werden. Es ist sogar in der Lage, die innerhalb einer Li-Batterie vorliegenden, unterschiedlichen chemischen Zustände, die sich auf Grund verschiedener Ladezustände ergeben, abzubilden. Es können zwei verschiedene Li-K-Emissionslinien dargestellt werden. Die Intensität der energieärmeren Li-K–Linie entspricht dem Grad der Ladung, während die energiereichere Li-K–Linie der Menge des metallisch gebundenen Li entspricht.
  
  
• Schnelle Paralleldetektion
  Dank eines neuentwickelten aberrationskorrigierten Gittersystems und eines hochempfindlichen Röntgen-CCD-Systems kann mit dem SXES simultan ein vollständiges Energiespektrum erstellt werden.
  
  
• Analyse chemischer Zustände
  Die Analyse chemischer Zustände erfolgt beim SXES in ähnlicher Weise wie bei XPS und EELS. Wie an der Fermikante der Al-L–Emission von Aluminium gezeigt wurde, hat das SXES eine Energieauflösung von nur 0,3 eV.
  
  
• Li-Nachweis: Peakform in Verbindungen
  Bei metallischem Li wird eine einzelne K-Linie festgestellt. Je nachdem, inwieweit das Valenzband besetzt ist, kann ein zusätzlicher Satellitenpeak auftreten.