JEOL JEM-120i Transmissionselektronenmikroskop
JEOL JEM-120i Transmissionselektronenmikroskop
Elektronenmikroskope werden in einer Vielzahl von Bereichen eingesetzt - von der Biotechnologie über die Nanotechnologie bis hin zu Polymeren und neuen Materialien. Mit der Bandbreite der möglichen Anwender wachsen auch die Einsatzmöglichkeiten. Viele Anwender erwarten auch von einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) einfaches Handling für ihre Forschungs- und Testzwecke. Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, hat JEOL das JEM-120i als Mikroskop der nächsten Generation entwickelt, das von der Bedienung bis zur Wartung sowohl für Anfänger als auch erfahrene Anwender einfach zu nutzen ist.
Von der Abbildung kryogener Proben bis zur Elementanalyse materialwissenschaftlicher Proben, für hohen Durchsatz in der Asbestanalytik mittels 4-fach-Halter oder als Schulungssystem für Anfänger und Studenten – das JEM-120i wird mit Leichtigkeit jeder Aufgabenstellung gerecht.
Merkmale
Ultra-kompaktes Design
o Der Grundriss des TEMs von weniger als 1,5m² ermöglicht den Betrieb in nahezu jedem Labor.
o Mit einer Gesamthöhe von 1,78m können Proben im Sitzen gewechselt werden.
o Durch die Einhausung ist das TEM deutlich robuster gegenüber thermischen Schwankungen und akustischen Einflüssen.
o Optische Designelemente zeigen dem Anwender den Systemzustand direkt farblich an.
o Das Filament kann durch den Anwender mittels eines Kartuschen-Systems schnell und einfach gewechselt werden.
Einfache Bedienung
o In wenigen Schritten vom Beladen zum gespeicherten Bild:
- START-Funktion fährt die Spannung hoch und startet die Emission.
- Nach automatisch aufgenommener Full-Grid-Map kann per Klick zur gewünschten Stelle navigiert werden.
- Mittels „Butler“-Funktion wird nach automatischer Strahl-Optimierung ein Bild gespeichert.
- Probenwechsel auf Knopfdruck während die Emission aktiviert bleibt.
o Das TEM lässt sich ausschließlich per Maus (und damit auch remote) bedienen – auf Wunsch mit den bewährten Bedienpulten mit konfigurierbaren Knöpfen / Displays.
o Automatischer Wechsel zwischen Vergrößerungsmodi durch motorisierte Blenden: Zoomen über den gesamten Vergrößerungsbereich mittels Mausrad!
Beliebige Erweiterbarkeit
o Korrelative Workflows (CLEM) durch beliebtes „Retainer“-System (gleiche Probenhalterspitze für TEM und Fluoreszenzmikroskop)
o Zahlreiche kompatible Probenhalter, z.B. 4-Fach-Halter, Clip-Halter, etc.
o Tomographie-Software für automatisierte Kippserienaufnahme, Rekonstruktion, Segmentierung und Visualisierung – aus einer Hand!
o Energiedispersive Spektroskopie (EDX) für Elementanalytik und -verteilungsbilder
o Offene Plattform für ein Vielzahl weiterer Hersteller, bspw. für externe Kameras, Probenhalter, Analysesysteme, Software, etc.
Spezifikationen
Auflösung | 0,2nm (HC-Polschuh) bzw. 0,14nm (HR-Polschuh) |
Beschleunigungsspannung | 20kV bis 120kV |
Vergrößerung | x50 bis x1,2Mio (bzw. x1,5Mio) |
Max. Kippwinkel | ±80° |
Kamera | • 4MP, 30fps JEOL NeoView |
Elektronenquelle | Wolfram- oder LaB6-Emitter |
Abmessungen (L/B/H) | 1,734m / 0,84m / 1,782m |
Anzahl der zu ladenden Proben | |
Vakuum System |
Bitte beachten Sie:
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