Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-1400Flash Trans­missions­elektronen­mikroskop

Produkt
Merkmale
Spezifikationen
Bilder
Info

JEOL JEM-1400Flash Trans­missions­elektronen­mikroskop

Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen eine Vielzahl von Proben in kürzester Zeit untersuchen zu können stellt JEOL jetzt das neue JEM-1400Flash vor. Zusammen mit der neuen, vollständig integrierten und hochsensitiven sCMOS Kamera, einem neuen System zur Erstellung von Panoramabildern sowie einer neuen Funktion für korrelative Mikroskopie setzt das JEM-1400Flash neue Standards im Bereich der Elektronenmikroskopie.

Merkmale

  1. Hochempfindliche sCMOS Kamera, "Matataki Flash"
    Die neue "Matataki Flash", JEOLs innovative und hochsensitive sCMOS Kamera, reduziert das Grundrauschen, selbst bei hohen Bildraten, deutlich. Diese leistungsstarke Funktion ermöglicht die Akquise von hochaufgelösten Bildern mit einem beeindruckenden Signal-zu-Rausch Verhältnis.

  2. Neue Funktion: Panorama - ohne Grenzen, Limitless Panorama (LLP)
    Zusätzlich zur konventionellen elektromagnetischen Verschiebung des Bildes enthält das JEM-1400Flash ein vollkommen neues System zur Erstellung von Panoramabildern. Durch das Verfahren der Probenbühne, können hochaufgelöste Panoramabilder der gesamten Probe mit noch nie dagewesener Detailtiefe erstellt werden. In Kombination mit der neuen "Matataki Flash" sCMOS Kamera ist es nun möglich "grenzenlos" große Panoramabilder vollständig automatisiert erstellen zu lassen.

  3. Neue Funktion: Korrelative Mikroskopie
    Ein digitales Bild, welches mit einem Lichtmikroskop aufgenommen wurde, kann direkt einem TEM-Bild überlagert werden. Das schnelle identifizieren von interessanten Bereichen, welche häufig in fluoreszierenden Bildern leicht zu erkennen sind, ist hiermit einfacher denn je.

Spezifikationen

Auflösung

0.2 nm (HC) 0.14 nm (HR)

Beschleunigungs­spannung

10 to 120 kV

Vergrößerung

×10 to ×1,200,000 (HC), ×10 to ×1,500,000 (HR)

Max. Kippwinkel

±70° *Mit optionalen Probenhalter für hohe Kippwinkel

Anzahl der zu ladenden Proben

Bis zu 4 Proben *Mit dem optionalen Quartet-Probenhalter

Vakuum System

Ölfreies Pumpsystem für die Elektronenoptik

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
Übermitteln Sie uns Ihre Anliegen mit dem nachfolgend aufgeführten Kontaktformular (* = Pflichtfeld).

Kontaktart(en) wählen*

Ihre Kontaktdaten*



Neuigkeiten von JEOL


Ihre Nachricht an JEOL

Weitergabe Ihrer Nutzerdaten an Dritte

Diese Seite verwendet Dienste, die personenbezogene Daten erheben, damit Funktionen für soziale Medien angeboten und Webseitenzugriffe analysiert werden können. Es handelt sich um Google Maps (zur Anzeige unseres Standorts) und Google Analytics (zur lokalen Webseitenanalyse). Diese Dienste führen die Daten ggf. mit weiteren Daten zusammen. Weitere Informationen zu den von uns verwendeten Diensten und zum Widerruf finden Sie in unseren Datenschutzbestimmungen.
Ihre Einwilligung dazu ist freiwillig, für die Nutzung der Webseite nicht notwendig und kann jederzeit mit Wirkung für die Zukunft widerrufen werden.
Sie können die Erhebung und Verarbeitung der folgenden, von dieser Webseite genutzten Dienste ablehnen oder sie akzeptieren.

Die Hinweise zum Datenschutz habe ich gelesen und verstanden. Ich bin mit der Übertragung und Speicherung meiner Daten im Rahmen der Datenschutzerklärung einverstanden. Ich weiß, ich habe das Recht, diese Einwilligung jederzeit ohne Angabe von Gründen zu widerrufen ohne dass die Rechtmäßigkeit, der aufgrund meiner Einwilligung bis zum Widerruf erfolgten Verarbeitung davon berührt wird.