JEOL JEM-F200 Analytisches Transmissionselektronenmikroskop
JEOL JEM-F200 Analytisches Transmissionselektronenmikroskop
Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken.
Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen Benutzeroberfläche wurden die Auflösung und Stabilität deutlich gesteigert und zugleich weitere zahlreiche Funktionen implementiert.
Merkmale
- Smart Design
Das Design und Bedienerkonzept des neuen JEM-F200 wurden komplett überarbeitet. Die Softwareoberfläche wurde speziell auf die Anwenderbedürfnisse in der analytischen Transmissionselektronenmikroskopie ausgerichtet. Die über Jahrzehnte hinweg gesammelte Expertise als Technologieführer wurde ausgenutzt um eine exzellente mechanische und elektrische Stabilität zu erreichen. - Quad-Lens Kondensorsystem
Moderne Transmissionselektronenmikroskope müssen eine Vielzahl von Abbildungs- und Analysetechniken vereinen. Im JEM-F200 wird ein 4-stufiges Kondensorsystem eingesetzt um den Strahlstrom und den Konvergenzwinkel unabhängig voneinander zu kontrollieren. - Fortgeschrittenes Rastersystem
Zusätzlich zum Rastersystem in der Kondensor-Optik ist es beim JEM-F200 nun optional möglich, den Strahl in der bildgebenden Optik zu rastern. Dadurch werden großflächige STEM-EELS-Aufnahmen ermöglicht. - Pico-Antrieb
Statt eines Piezo-Antriebs kommt im JEM-F200 ein Pico-Antrieb für die Probenbühne zum Einsatz, der einen weiten dynamischen Bereich bis hinunter zur atomaren Skala abdeckt. - Specporter
Gerade für Einsteiger erleichtert der neu entwickelte Specporter den Einbau des Probenhalters deutlich, da dieser nach dem Einführen mit nur einem Klick automatisch geladen wird. - Verbesserte CFEG
Das JEM-F200 ist optional mit kalter Feldemissionsquelle erhältlich. Diese zeichnet sich nicht nur durch ihre hohe Stabilität und ihren hohen Richtstrahlwert sondern auch durch die exzellente Energieauflösung aus. Neben ultra-schneller Analytik können so gleichermaßen Bindungszustände mit EELS untersucht werden und aufgrund der geringen chromatischen Aberration sind Abbildungen mit höchster Auflösung möglich. - Dual-EDS
Optional können bis zu zwei großflächige, rückziehbare Silizium-Drift-EDS-Detektoren verwendet werden. Durch den dadurch extrem hohen Raumwinkel werden selbst von strahlempfindlichen Proben ultra-schnelle EDS-Mappings aufgenommen. - Umweltfreundlichkeit
Als erstes Transmissionselektronenmikroskop verfügt das JEM-F200 über einen serienmäßigen Eco-Modus, der es auch im Stand-By-Betrieb unter optimalen Bedingungen hält. Somit können bis zu 80% der Energie gegenüber dem normalen Betriebsmodus eingespart werden.
Spezifikationen
Auflösung *1 | TEM, Punkt: 0.19 nm |
Vergrößerung *1 | TEM: ×20 bis ×2.0 M |
Emitter | Schottky-Feldemissionsquelle oder kalte Feldemissionsquelle |
Beschleunigungsspannung *2 | 20 bis 200 kV |
Max. Kippwinkel | ±80° (mit High-Tilt-Halter) |
* 1 Konfiguration: CFEG, UHR
* 2 Standard: 200 kV und 80 kV.
Optionen
- Bis zu 2 energiedispersive Röntgenspektrometer (EDS)
- Energie-Verlust-Spektroskopie (EELS)
- Kamerasysteme
Bitte beachten Sie:
Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.