JEOL JEM-ARM300F2 GrandARM™ 2 – Die neue Referenz ultra-hochauflösender Transmissionselektronenmikroskope
JEOL JEM-ARM300F2 GrandARM™ 2 – Die neue Referenz der Transmissionselektronenmikroskope
Bereits das JEOL
300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und
EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität
des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht die neueste
Generation der JEOL Cold-FEG-Systeme eine für kalte Feldemitter extrem stabile
Emission über viele Stunden hinweg. Daneben reduziert das neue
„Cover-in-Cover“-Konzept externe Einflüsse wie Temperatur- bzw. Luftdruckschwankungen
oder Raumschall. Das High-End-TEM verfügt über eigens von JEOL entwickelte
Dodekapol-Cs-Korrektoren, die mittels der eigenen Korrektor-Tuning-Einheit
„Cosmo“ bis zur 3. Ordnung inkl. 4-fachem Astigmatismus automatisch korrigiert
werden. So erreicht System eine STEM-Auflösung von weniger als 53 pm.
Je nach Anwendung kann das GRAND ARM 2 für die ultrahochauflösende Bildgebung mit
großen EDX-Detektoren ausgestattet oder für maximale analytische
Leistungsfähigkeit und in-situ-Analysen maßgeschneidert werden.
Merkmale
- Ultrahochauflösende Bildgebung
Dank des patentierten Cs-Korrektors wird im Rasterbetrieb (STEM) bei einer Beschleunigungsspannung von 300 kV eine Auflösung von 53 pm erreicht. - Kalte Hochleistungs-Feldemissionsquelle
mit großer Helligkeit und geringer Energiedispersion
Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke Strahl ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und schnelle Analyse. - Integrierte JEOL Aberrationskorrektoren
Das GRAND ARM 2 beinhaltet die von JEOL selbst entwickelten Korrektoren für die sphärische Aberration im Bilderzeugungs- (TEM-Korrektur) und Beleuchtungssystem (STEM-Korrektur) mit Korrektur aller axialen Bildfehler bis zur 5. Ordnung. - Automatische Aberrationskorrektur
JEOL COSMO (JEOL Corrector System Module) zur automatischen Korrektur bis zur 3. Ordnung (4-zähliger Astigmatismus). Automatische STEM-Korrektur über 2 Ronchigramme, die an einer amorphen Probenstelle aufgenommen werden können. - Maßgeschneiderte Objektiv-Polschuhe
Die beiden auswählbaren Polschuhe für das Objektiv ermöglichen eine Vielzahl unterschiedlicher Anwendungen. Der neue FHP2-Polschuh ermöglicht zugleich höchste laterale Auflösung und die Verwendung großflächiger EDX-Detektoren. Die optimierte Geometrie erlaubt die Aufnahme sauberer Spektren mit hoher Geschwindigkeit. - Robustes Design
Die Säule bietet bei einem Durchmesser von 330 mm ein erhöhtes Maß an mechanischer Stabilität. Das „Cover-in-Cover“-Konzept trägt zudem zu einer erhöhten Stabilität und Unempfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen bei. - Vielzahl
möglicher Detektoren
Neben den bekannten BF-, DF-, HAADF-Detektoren können annulare BF-Signale (für leichte Elemente) und auch differentielle Phasenkontrast-Abbildungen (DPC, für interne Felder) in Echtzeit aufgenommen werden. Das neue Optimum-BF-System ermöglicht durch besonders effiziente Bildfilterung kontrastreiche Aufnahmen bei niedrigster Strahldosis. Plastische Bilder bzw. Oberflächeninformationen können mit einem SE-/BSE-Detektor erzeugt werden. Das Portfolio wird durch eine breite Anzahl kompatibler TEM- und Pixelated-STEM-Kameras sowie großflächige EDX-Detektoren komplettiert.
Technische Angaben
TEM-Auflösung (Gitter) | ≤ 50 pm (TEM-Korrektor) |
STEM-Auflösung | ≤ 50 pm (TEM-Korrektor) |
EDX-Raumwinkel | max. 2,2 sr (Dual-EDX) |
Kippwinkel | max. X: ± 36°/ Y: ± 31° |
Optionen
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