JEOL JEM-3300 (CRYO ARM™ 300 II) Kryo Feld-Emissions Mikroskop
JEOL JEM-3300 (CRYO ARM™ 300 II) Kryo Feld-Emissions Mikroskop
Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie.
Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. “Single Particle Analysis“, Abk: SPA) hat in den letzten Jahren dramatische Fortschritte gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr flexiblen Lademechanismus zum Aufbewahren und Untersuchen von Kryo-Proben zur Verfügung.
Basierend auf dem Feedback der Anwender hat JEOL das CRYO ARM™ seitdem signifikant verbessert. So erlaubt die neuartige Kryo-Stage den schnellen Wechsel zwischen Screening und hochauflösender Datenaufnahme, für das bisher typischerweise zwei separate Systeme eingesetzt wurden. Darüber hinaus wurden das Bedienkonzept und die Einstellung der Elektronenoptik samt des Energiefilters spürbar verbessert, wodurch die Aufnahme qualitativ hochwertiger Datensätze nun auch für Einsteiger einfach erlernbar ist. Auch der Probendurchsatz wurde durch zahlreiche neue Features drastisch erhöht, sodass das neue CRYO ARM™ 300 II zugleich schneller und einfacher bedienbar ist.
Merkmale
- Optimierter Durchsatz
Vom Einbau der Probe in das Mikroskop, über das Screenen und Abbilden bis hin zum Lagern und finalen Ausbau werden kryogene Proben einige Male im Mikroskop bewegt. Im JEOL CRYO ARM™ 300 II werden Proben in stabile, massive Kartuschen eingebaut und können daher mit höchster Präzision und orientierungsrichtig positioniert werden. So können Proben immer wieder zwischen der Parkposition und der Säule transferiert werden ohne Koordinatenverlust. Darüber hinaus kommt beim CRYO ARM™ 300 II ein einzigartiger Köhler-Beleuchtungsmodus zum Einsatz, der eine homogene, artefaktfreie Beleuchtung der Probe ermöglicht. Damit können mehr Bilder von kleineren Probenbereichen in kürzerer Zeit aufgenommen werden. Gegenüber dem Vorgängermodell konnte der Durchsatz damit mehr als verdoppelt werden.
2. Verbesserte StabilitätDer Probendurchsatz wird nicht nur durch eine schnellere Abbildung erhöht, sondern auch durch die Bildqualität der Einzelbilder. Denn je besser jedes einzelne Bild ist, desto weniger Bilder müssen für eine bestimmte SPA-Auflösung aufgenommen werden. Im CRYO ARM™ 300 II kommt die neuste Generation der kalten Feldemission (Abk. CFEG) von JEOL zum Einsatz. Nachdem diese für Höchstauflösung entwickelte Elektronenquelle bereits vor rund 10 Jahren die Welt der materialwissenschaftlich ausgerichteten Mikroskope revolutioniert hat, findet die neueste Generation der JEOL CFEG nun auch Einzug in die Kryo-Elektronenmikroskope. Ihre abermals verbesserte Stabilität und der voll-integrierte Flash-Prozess machen sie nun auch zur ersten Wahl für die SPA, bei der Datensätze über Stunden oder Tage aufgenommen werden.
Darüber hinaus ist das CRYO ARM™ 300 II mit dem integrierten JEOL Omega-Filter ausgestattet, der sich per Knopfdruck automatisch und langzeitstabil justieren lässt und eine kontrastreiche Abbildung ermöglicht.3. Einfachere Bedienung
Die Bedienung des Mikroskops wurde in vielerlei Hinsicht verbessert. Allen voran steht zur automatisierten Aufnahme von SPA-Datensätzen die JEOL-eigene Software JADAS bereits in Version 4 zur Verfügung. Neben dem automatischen Konditionieren („Flashen“) des Emitters ist im Workflow auch die automatische Optimierung des Omega-Filters und die lochfreie Phasenplatte implementiert.
Durch den Auto-Probenwechsler können Proben auf sehr einfache Weise zwischen der Mikroskopsäule und dem Aufbewahrungssystem transferiert werden. In diesem 12-stöckigen „Parkhaus“ können Proben auch während eines Probenscreenings umpositioniert oder aus dem Mikroskop ausgebaut werden. Wenn es sein muss, können die Grids natürlich auch kontaminationsfrei im Mikroskop gelagert werden – und das über mehrere Wochen oder längere Zeit hinweg.
Hauptgerät
Elektronenquelle | Kalte Feldemission (Cold FEG neuester Generation) |
Beschleunigungsspannung | 300 kV, 200kV |
Energiefilter | In-Column Energiefilter (Omega-Filter neuester Generation) |
Maximaler Neigungswinkel | ± 70° |
Automatischer Lademechanismus | Bis zu 12 Proben |
Phasenplatte | Lochfreies System |
Probenbühne / Automatisches Probenwechsel-System
Probenbühne | |
|---|---|
Kühlmittel | Flüssigstickstoff |
Verfahrwege | In-Column Energiefilter (Omega-Filter) |
X、Y | Motorbetrieben (Bewegungsbereich: ±1 mm) |
Z | Motorbetrieben (Bewegungsbereich: ±0.2 mm) |
Neigung-X |
Motorbetrieben (Neigung: ±70°) |
Probenwechsel |
Eingebautes automatisches Kryo-Transfersystem |
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